Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9261694 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-12XLm
ID: 9261694
Wafergröße: 8"-12"
Prober, 8"-12" Stage technology: Ball screw XY Probing accuracy: ±2.5 μm Z Probing accuracy: ±5.0 μm Probing force: 100/200 kg Optical system: ASU/BCU-II Operation system: VME.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm ist ein fortschrittlicher Prober, der die genaue Prüfung, Messung und Charakterisierung einer Vielzahl von Halbleiterbauelementen ermöglicht. Es ist in der Lage, sowohl kleine als auch große Merkmale an einem Bauteil zu messen, was bedeutet, dass es sowohl für Produktionsversuche als auch für Forschungszwecke verwendet werden kann. Die elektrischen Messfähigkeiten des Probers ermöglichen eine breite Palette von Strom- und Spannungsmessungen mit hoher Genauigkeit und Auflösung. Es verfügt über eine Vielzahl von optischen Systemen, wie automatisierte Waferausrichtung, automatische Waferoberflächeninspektion und automatische Fokussierung. Der Prober verfügt zudem über ein Hochgeschwindigkeits-Scansystem, um präzise und zuverlässige Messungen zu ermöglichen. TEL P12XLM ist in der Lage, einen hohen Durchsatz und schnelle Messungen, so dass Benutzer schnell und präzise eine Vielzahl von Halbleiterbauelementen zu charakterisieren. Darüber hinaus ist es mit einem automatisierten Kontaktsystem für genauen und konsistenten Kontakt ausgestattet. Der Prober ermöglicht es dem Anwender auch, seine gewünschten Prüfparameter, einschließlich Kontaktkraft, Kontaktzeit und Kontaktposition, einzugeben, um präzise Messungen zu ermöglichen. Diese Einheit ist zuverlässig und benutzerfreundlich und eignet sich somit für eine Vielzahl von Prüf- und Charakterisierungsanwendungen in der Halbleiterindustrie.
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