Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9265134 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-12XLm
ID: 9265134
Wafer prober.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm Prober ist eine umfassende messtechnische Lösung für den Einsatz in Wafer-Sondierungsanwendungen. Es verfügt über fortschrittliche automatisierte Software, hochpräzise Bewegungssteuerungstechnologie und ein hochauflösendes Mikroskop zur Durchführung genauer Messungen. TEL P12XLM ist ein vollautomatischer, mehrkanaliger mehrachsiger Prober mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Es verfügt über fortschrittliche Linearmotortechnologie, um eine überlegene Bewegungssteuerungsleistung zu erzielen. Für hochauflösende Präzisionsmessungen verwendet TOKYO ELECTRON P 12 XLM ein fortschrittliches, hochauflösendes Mikroskop mit einem digitalen Zoomsystem. Dieses Mikroskop erfasst hochauflösende Bilder aus Proben, so dass der Benutzer Funktionen wie kontaktierte Pads oder Sondenspuren genau messen kann. Es verfügt auch über eine Autofokus-Funktion, die sich automatisch auf Objekte im Sichtfeld konzentriert. Für die automatisierte Wafer-Sondierung umfasst TEL P-12 XLM Prober eine hochgenaue Wafer-Stufe mit fortschrittlichen Bewegungssteuertechniken, die es Anwendern ermöglicht, Wafer mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu sondieren. Dieser Prober kann Wafer mit seinem automatisierten Wafer-Ausrichtsystem präzise positionieren, wodurch erhöhte Merkmale exakt lokalisiert werden können. Darüber hinaus kann der fortschrittliche, mehrkanalige, mehrachsige Roboterarm des Probers mehrere Wafer gleichzeitig mit einer hohen Genauigkeit sondieren. Darüber hinaus bietet P-12XLm Prober Anwendern leistungsstarke Datenmanagement- und Analysetools. Dieser Prober unterstützt erweiterte Datenanalysetechniken wie Überlagerungen, Querschnittsansichten und Schrittdiagramme. Darüber hinaus kann dieser Prober zum Speichern, Analysieren und Archivieren von Sondendaten in einer Vielzahl von Dateiformaten verwendet werden. Insgesamt bietet TOKYO ELECTRON P-12 XLM Prober Anwendern eine umfassende messtechnische Lösung für hochpräzise Wafer-Sondierungsanwendungen. Die fortschrittliche Software, das hochauflösende Mikroskop und die präzise Bewegungssteuerung sorgen für genaue Messungen. Darüber hinaus bieten seine Datenmanagement- und Analysefunktionen Anwendern eine kostengünstige Lösung für Sondierung und Analyse.
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