Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn/n+ #9261693 zu verkaufen

TEL P-12XLn/n + ist ein vielseitiger Prober, der Anwendern leistungsstarke Wafer-Testlösungen bietet. Dieses Tool ist in der Lage, eine breite Palette fortschrittlicher Waferstrukturen und -technologien zu testen, einschließlich BiCMOS, CMOS, GaAs, SiGe und dielektrischen Materialien mit hoher k. Der P-12XLn/n + bietet schnelle Testabdeckung mit Zuverlässigkeit, Genauigkeit und verbessertem Waferdurchsatz. Der P-12XLn/n + -Prober ist mit einem hochauflösenden, vierdimensionalen Waferausrichtgerät ausgestattet, das eine genaue und präzise Ausrichtung der Wafer während der Prüfung ermöglicht. Dieses Ausrichtungssystem kann sowohl in X- als auch in Y-Achse +/-25 Mikrometer betragen. Zusätzlich kann der Prober Wafer-Pegel bei bis zu 1,5 Grad in der Z-Achse messen, was eine hochgenaue Ausrichtung der Wafer ermöglicht. Diese fortschrittliche Ausrichteinheit reduziert die Wafer-Testzeiten erheblich und verbessert letztlich den Durchsatz. Der P-12XLn/n + ist darüber hinaus mit einer patentierten niederempfindlichen Wafer-Handhabungsmaschine ausgestattet, die eine geringere mechanische Beanspruchung des zu prüfenden Geräts ermöglicht. Dieses Wafer-Handhabungswerkzeug soll sicherstellen, dass der Wafer während des gesamten Testprozesses korrekt ausgerichtet bleibt. Darüber hinaus hilft ein vollständig integriertes Auto-Focus-Asset, die Konsistenz der Gerätetests zu gewährleisten. Der P-12XLn/n + -Prober verfügt auch über das fortschrittliche Steuerungsmodell der CMU-1000 Serie. Dieses Gerät bietet leistungsstarke und benutzerfreundliche Programmierfunktionen, sodass Testingenieure das System schnell und einfach mit ihren eigenen Skripten programmieren können. Darüber hinaus ermöglicht das Gerät die Prüfung einer Vielzahl von Geräten, von sehr einfachen Strukturen bis hin zu komplexen 3D-ICs. Der P-12XLn/n + bietet zudem ein robustes Softwarepaket mit umfangreichen Diagnosefunktionen. Dies umfasst eine breite Palette von Dienstprogrammen für Wafermessung, Ausrichtungskorrektur, automatisierte Sondenkartencharakterisierung und Waferanalyse. Darüber hinaus bieten benutzerfreundliche grafische Benutzeroberflächen eine einfachere Datenanalyse und -berichterstattung. Insgesamt bietet TOKYO ELECTRON P-12XLn/n + prober Anwendern leistungsstarke Wafer-Testlösungen. Die fortschrittliche Ausrichtmaschine, das Handhabungswerkzeug für Wafer mit geringer Empfindlichkeit, das automatische Fokus-Asset und das leistungsstarke Steuerungsmodell tragen zur optimierten Prüfung einer Vielzahl von Waferstrukturen und -technologien bei. Das robuste Softwarepaket erhöht die Genauigkeit und Konsistenz des Testprozesses und erhöht letztlich den Waferdurchsatz und die Zuverlässigkeit.