Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #293809334 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-12XLn
ID: 293809334
Wafergröße: 12"
Prober, 12" Chuck type: Hot.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn ist ein von TEL Limited hergestellter Halbleiterprober, der für Halbleitertests und Sondierungsanwendungen konzipiert ist. Dieser Prober ist mit präzisen Positionsgeräten ausgestattet und ist in der Lage, eine genaue Sondierung im Mikronenbereich mit Wiederholgenauigkeit des Unterangströmniveaus vorzunehmen. Darüber hinaus enthält dieser Prober auch eine hochmoderne CCD-Bildgebungseinheit, um hochauflösende Bilder winziger Strukturen mit hoher Genauigkeit zu erfassen. TEL P 12 XLN verwendet eine Vakuumkammer, um Hoch- und Tieftemperatur-Prozessdichtungen zu realisieren, die dazu beitragen, Ausgasungen zu reduzieren und die Verschmutzung des zu prüfenden Geräts zu minimieren. Dieser Prober bietet auch eine hohe Präzision und Geschwindigkeit, um auch die fortschrittlichsten Prozessschritte zu bewältigen. Es kann eine Feuchtigkeitskontrolle von 10 Prozent bis 95 Prozent bei ± 5 Prozent relativer Luftfeuchtigkeit erreichen und soll die Belastung des zu prüfenden Geräts reduzieren. Der Prober ist mit einem fortschrittlichen Messsystem ausgestattet, das in der Lage ist, Kristall-Planstufen und Waferbogen innerhalb eines Nanometers genau zu messen. Das Gerät kann Sondenpunkte mit einer 12-Achsen-Hochfrequenz-Scan-Technik analysieren, die eine Bewegung der gekrümmten Trajektoriensonde ermöglicht, die die Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Messungen erhöht. Darüber hinaus ist es mit einem Kollisionserkennungssystem ausgestattet, um eine Beschädigung der Sondennadeln zu verhindern, indem die Bewegung der Nadel bei Berührung automatisch gestoppt wird. TOKYO ELECTRON P-12 XLN ist in der Lage, einen Tastkartenadapter als Schnittstelle zwischen dem Prober und dem zu prüfenden Gerät zu verwenden, wodurch die Messung von Geräten auf kleinen Substraten erleichtert wird. Insgesamt ist dieser Prober entworfen, um Halbleiterprüfung und Sondierung genau und einfach zu machen. Mit seinen fortschrittlichen Messfähigkeiten und seiner robusten Konstruktion ist es ideal für anspruchsvollste Halbleitertest- und Sondenanwendungen.
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