Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #293809509 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-12XLn
ID: 293809509
Wafergröße: 12"
Prober, 12".
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn ist ein automatisierter Prober, der zum Sondieren, Testen und Analysieren von Halbleiterchips verwendet wird. TEL P 12 XLN ist ein fortschrittlicher Prober, der eine hervorragende Leistung für Wafertests, Inspektion und Analyse von Halbleiterbauelementen bietet. Es ist eine hochpräzise, vollautomatische Prüf- und Messausrüstung, die Qualitätsergebnisse liefert. TOKYO ELECTRON P-12 XLN verfügt über hochauflösende Optik, automatisierte Wafer-Positionierung, vollautomatische Rahmenausrichtungen und Low-Force-Sondierung. Die Leistung des Probers wird durch ein patentiertes Kalibriersystem weiter verbessert, das die Prüfgenauigkeit erhöht. TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLN verfügt über einen hochauflösenden Sucher, mit dem Benutzer die Sonden und die Chip-Platzierung mit optimaler Genauigkeit überwachen können. P 12 XLN ist mit einem benutzerfreundlichen Bedienfeld konzipiert, das es Anwendern ermöglicht, schnell Sonden und Testbedingungen ohne technische Expertise einzurichten. Es bietet auch integrierte Steuerungsfunktionen zur Unterstützung des Benutzerbetriebs, wie ein Selbstkontrollsystem, einen programmierbaren Timer und programmierbare Überwachungsfunktionen. Darüber hinaus ist P-12 XLN mit einer Reihe von Geräten zur Prüfung der Waferumgebung ausgestattet, einschließlich eines Temperatur/Feuchtigkeit-Monitors und eines Mikroskops. Das Mikroskop kann verwendet werden, um die Chips auf Fehler zu untersuchen, die Chips zur Visualisierung zu markieren und die Chipgröße und -form zu messen. Eine breite Palette von Geräten, wie digitale und analoge Zähler, Spannungs- und Stromzähler und Stationen zum Testen analoger und digitaler Geräte, können auch an TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN angeschlossen werden. TOKYO ELECTRON P-12XLn ist aufgrund seiner Hochgeschwindigkeits-Zentraleinheit (CPU) und des RAM (Random Access Memory) in der Lage, große Datenmengen zu verarbeiten. Dies ermöglicht schnellere Datenerfassung und Reaktionszeiten mit minimalem Datenverlust oder Fehlern. Die Kompatibilität mit verschiedenen Softwareprogrammen und Gerätesimulatoren sorgt zudem für genaue und zuverlässige Wafer-Testergebnisse. Kurz gesagt, TOKYO ELECTRON P 12 XLN ist ein Prober der nächsten Generation, der überlegene Wafer-Testleistung mit einfacher Bedienung, hoher Genauigkeit und ausgezeichneter Genauigkeit bietet. Es ist ein vielseitiger, robuster Prober, der minimale Anwenderkompetenz erfordert, so dass Benutzer die genauesten Ergebnisse erzielen können, ohne auf Effizienz oder Qualität zu verzichten.
Es liegen noch keine Bewertungen vor