Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9090918 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + Prober ist ein voll funktionsfähiger Prober, der für die Durchführung fortschrittlicher Halbleiterscheibentests und -prüfungen entwickelt wurde. Es ist ein Mehrzweck-Tool, das für eine Vielzahl von Halbleiter-Wafer-Tests und -Inspektionen verwendet werden kann, von der Wafer-Bildgebung bis zur 3D-Bildgebung von Silizium-Düsen. Es verfügt über ein Hochleistungs-chromatisches und Autofokus-Sichtsystem mit großem Sichtfeld, das präzise Bildauflösungen, schnelles Inspektionsscannen und genaue automatische Fokusoperationen bietet. Der Prober verfügt zudem über ein Mehrpunkt-Fast-Force-Laser (FFL) -System, das eine schnelle und genaue 3D-Sondierung von Wafer-Struktur und Komponenten ermöglicht. TEL P12XLN + unterstützt zudem eine umfangreiche Bibliothek mit Wafer-Test- und Analyse-Software-Suiten sowie eine Reihe von thermischen Messwerkzeugen. TOKYO ELECTRON P 12 XLN + ist ideal zum Sondieren von Wafern mit eingebetteten Transistoren, Induktoren, metallischen Kontakten und anderen Strukturen. Der Prober kann Fehler wie Risse, kurze Hosen, Partikelverunreinigungen und Unterschichtdefekte erkennen und messen. Es ist auch in der Lage, kleine Spaltgrößen wie Zwischenschichtspaltgrößen, Durchsilizium-via (TSV) -Spaltgrößen und Passivierungsschichtspaltgrößen genau zu messen. P 12 XLN + kommt auch mit einer breiten Palette von Messtechnik und Analyse-Tools, so dass Benutzer Merkmale und Parameter in ihren Wafern und Komponenten zu charakterisieren. Der Prober ist mit einer robusten und zuverlässigen Plattform konzipiert, die eine stabile, wiederholbare und genaue Sondierungsumgebung für eine breite Palette von Wafern bietet, von kleinen Chips in Stanzgröße bis hin zu großen Wafern bis zu 12 Zoll. Der geringe Rauschpegel des Probers sorgt auch dafür, dass spektroskopische Abbildungen mit minimalen Störungen durchgeführt werden können. Mit seinem umfangreichen Toolset und seinem großen Sichtfeld ist TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN + prober das ideale Werkzeug für anspruchsvolle Wafer-Sondierungsaufgaben.