Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9102060 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn prober ist ein High-End Analytical Electron Microscope (AEM), das für Halbleiter-Wafer-Tests und Messtechnik entwickelt wurde. Es verfügt über eine vierachsige digitale Servoausrüstung, die präzise, wiederholbare Bewegungen mit sehr geringen thermischen Verzerrungen für maximale Abtastgenauigkeit liefert. Es verfügt über ein großes, offenes Design, das sowohl standardgroße als auch ultragroße Wafer unterstützt. Es verfügt über eine hochauflösende Digitalkamera für erweiterte Bildverarbeitung und erweiterte automatisierte Partikelzählfunktionen. TEL P 12 XLN Prober ist mit einer großen, hellen Feld X-Y-Z Waferstufe mit hoher Belastbarkeit sowie einer erweiterten Z-Achse ausgestattet, um einen großen Probenbereich aufzunehmen. Es verfügt über ein leistungsstarkes Vertical Scanning Electron Microscope (VSEM) mit einer kurzen Einstellzeit, die eine hohe Bildauflösung und hohe Durchsatzrate bietet. Dieser Prober verfügt auch über ein TEL-patentiertes Beam Optics Control (BOC) -System, das eine außergewöhnliche Fokusstabilität und minimierte sphärische Aberrationseffekte bietet. Darüber hinaus verfügt TOKYO ELECTRON P-12 XLN über eine einzigartige Nanofokuseinheit und ein zweistufiges selbstzentrierendes Wafer-Spannfutter. Die nanofokussierende Maschine ermöglicht eine ultrapräzise Positionierung des Elektronenstrahls und eine sehr kleine Flächenbildgebung, während die automatische Zentrierung eine schnelle und genaue Ausrichtung für schnelle Abtastzeiten ermöglicht. Der Prober wurde entwickelt, um Vibrationen zu minimieren, die Bildstabilität zu verbessern und eine hochgenaue Probenahme innerhalb einer Vielzahl von Proben sicherzustellen. TEL P-12XLn prober bietet darüber hinaus überlegene Funktionen zur Kantenfestlegung. Es verwendet eine mehrspaltige automatische Zentrierplatte mit mehreren Punkten, die Kantenscheibenbewegungen erkennen können, während hochgenaue Bilder aufgenommen werden. Der Prober unterstützt mehrere Arten von Waferstadien und Proben, die von standardgroßen bis zu ultra-großen Wafern reichen. Darüber hinaus wird TOKYO ELECTRON P 12 XLN von der neuesten TOKYO ELECTRON Software gesteuert und ist mit einer Reihe von Betriebssystemen für umfassende Tests kompatibel. Insgesamt ist P-12 XLN prober eine ideale Lösung für Tests und Messtechnik in der Halbleiterindustrie. Seine hochpräzisen Komponenten und erweiterten Funktionen sorgen für außergewöhnliche Bildqualität, Wiederholbarkeit und Genauigkeit. Seine breite Palette von Funktionen und Fähigkeiten bieten Anwendern zudem höchste Flexibilität bei der Analyse und Prüfung einer Vielzahl von Proben.