Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9160189 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + Prober ist ein Wafer-Prober, der für den Einsatz in hochpräzisen, fortschrittlichen Halbleitertestlösungen entwickelt wurde. Die Ausrüstung wurde entwickelt, um flexible, kleine, großflächige und wiederholbare Testfunktionen für den sich rasch entwickelnden Halbleitermarkt zu ermöglichen. Dieser Wafer-Prober bietet einen hohen Durchsatz und eine hohe Genauigkeit für Serientests. TEL P12XLN + ist auf einem fortschrittlichen Verbundbaukörper aufgebaut und bietet einen robusten Rahmen, der bis zu zwölf Wafer in der kompakten Kassettenhalterung aufnehmen kann. Waferbelastung, Zentrierung und Ausrichtung wird durch fortschrittliche automatisierte laserzentrierte Ausrichtungstechnologie erreicht. Darüber hinaus verfügt das System über eine automatische Wafer-Mapping- und Identifikationseinheit über RFID-Tags, die genaue Testergebnisse gewährleistet. Der fortschrittliche TOKYO ELECTRON P 12 XLN + Wafer Prober wird von einer Hochleistungs-Zentraleinheit angetrieben, die eine unglaubliche Geschwindigkeit bis zu 2GHz liefert. In Verbindung mit der fortschrittlichen Bewegungssteuerungsmaschine ermöglicht das 64-Achsen-Bewegungswerkzeug eine hohe Präzision von bis zu 3um Auflösung. Das Asset ist auch voll kompatibel mit einer Vielzahl von Prober-Steuerungssoftware-Lösungen, die den Weg für schnelle, hohe Kapazität Tests. TOKYO ELECTRON P12XLN + Wafer Prober verfügt auch über eine Vielzahl von Sicherheits- und Umweltmerkmalen, einschließlich eines isolierten, flammhemmenden Gehäuses und Schutzglastüren, die eine sichere Testumgebung bieten. Um die Sicherheit von Mensch und Maschine weiter zu gewährleisten, entwarf TEL P 12 XLN + mit einer automatischen Sicherheitsabschaltung, die auslöst, wenn das Modell anormale Bewegungs- oder Umgebungsbedingungen erkennt. Insgesamt ist TOKYO ELECTRON P-12XLn + Wafer Prober ein leistungsstarker, präziser und hochentwickelter Halbleiter-Wafer-Prober, der beispiellose Fähigkeiten zur Prüfung und Inspektion von Halbleiterchips bietet. Diese Ausrüstung ist ideal für Serienprüfanforderungen in Umgebungen mit minimaler Bodenfläche und bietet eine erhöhte Prozessgeschwindigkeit und Genauigkeit.