Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9220506 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
ID: 9220506
Weinlese: 2005
Wafer prober
Hot / Cold chuck temp: -25~150
Connecting tester T5375 / T5377
OS Version: Rzz00-R014.08QH
Voltage: 200 VAC
2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + ist ein sehr vielseitiger Prober, der für den Einsatz in der Halbleiterindustrie zur Sondierung von Bauelementen und Schaltungen entwickelt wurde. TEL P12XLN + ist in der Lage, bis zu 12 Kontaktstellen in voller Breite gleichzeitig zu sondieren, was es ideal für die Optimierung der Sondierungstechniken und die Maximierung des Durchsatzes macht. Der Prober ist mit Positions- und Bewegungssteuerungssystemen ausgestattet, die eine präzise Ausrichtung und Positionierung der Sondenstelle ermöglichen, um eine genaue Sondierung zu gewährleisten. TOKYO ELECTRON P 12 XLN + verfügt außerdem über ein ultrahochgenaues 4-Achsen-Bewegungssystem, das es dem Prober ermöglicht, sich mit höchster Präzision innerhalb der X-, Y-, R- und Z-Achse zu positionieren, was ein hohes Maß an Kontrolle und Flexibilität bei Prüfverfahren bietet. Der Prober enthält auch eine erweiterte kraftgesteuerte Abtastfähigkeit für wiederholbare und zuverlässige Abtastergebnisse sowie einen einstellbaren Nadeldruckregelmechanismus zur Prüfung empfindlicher Komponenten. TEL/TOKYO ELECTRON P12XLN + bietet eine Vielzahl von Sondenhaltern, wie den Low-Profile TEL Hard Probe Halter und den JIS-konformen TOKYO ELECTRON Epoxy Mounted Probe Halter, beide kompatibel mit einer Vielzahl von manuellen und automatischen Sondenkarten. Der Prober verfügt zudem über ein integriertes Temperaturüberwachungssystem und ein In-situ-Kalibriersystem. Das robuste Design sorgt für maximale Verfügbarkeit und Benutzerfreundlichkeit und ist somit eine ideale Wahl für Zuverlässigkeitsprüfungen und erweiterte Gerätetests. TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN + ist ein zuverlässiger und effizienter Prober mit hervorragender Genauigkeit und konsistenter Leistung und somit die perfekte Wahl für alle Prüf- und Sondierungsanwendungen von Halbleiterbauelementen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor