Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9230417 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + ist ein fortschrittlicher Halbleiter-Prüfprober, der speziell für kleine Würfelbereiche, Feinwinkelmessung und ultrafeine Verdrahtungs-/Pad-Sondierungsanwendungen entwickelt wurde. Es bietet Werkzeuge zur genauen und schnellen Messung von Werkzeugparametern, einschließlich Messungen von Messwerten, hochauflösenden Drahtpolstermessungen und elektrischen Parameterwerten. Dieser Prober eignet sich gut für eine Vielzahl von Halbleiterbauelementen im Zusammenhang mit Messungen wie Wafer-Level-Sondierung und Charakterisierung kleiner ICs. TEL P12XLN + verfügt über einen schweren Stahlrahmen, der 1200mm x 700mm misst und eine maximale Sondenhöhe von 500mm aufweist. Dieser Prober ist mit einem großwelligen X-Y-Z Mechanismus ausgelegt und kann Wafergrößen bis 300mm Durchmesser handhaben. TOKYO ELECTRON P 12 XLN + ist mit zwei Hochgeschwindigkeits-Abtastwegen mit einer maximalen Abtastgeschwindigkeit von 600mm/s ausgestattet, die eine schnelle, genaue vertikale Abtastung ermöglichen. Seine X-Y-Z-Bewegung ist auch für die robuste und korrekte Sondierung der verschiedenen Teile eines Wafers optimiert. P-12XLn + verfügt auch über ein integriertes Formsortierer-Feature, das die Matrize nach dem Sondieren automatisch auf dem Wafer gruppieren kann. Diese Funktion wurde entwickelt, um die Wafer-Sondierungseffizienz zu optimieren und die manuelle Handhabung der Matrize zu reduzieren. Darüber hinaus hat dieser Prober die Fähigkeit, mehrere Wafer und Rezepte zu speichern und ist damit der ideale Prober für Tests mit hohem Volumen. Die Benutzeroberfläche von P 12 XLN + ist sehr intuitiv und erleichtert das Einrichten von Experimenten und die Datenerfassung. Dieser Prober unterstützt mehrere Softwareanwendungen und ermöglicht es Benutzern, jede Funktion an ihre Bedürfnisse anzupassen. Die automatische Start-Funktion dieses Probers ermöglicht ein automatisches Sondieren mit einer Taste. Abschließend ist TOKYO ELECTRON P12XLN + ein fortschrittlicher Prober, der sowohl für Allzweck-Wafer-Sondierung als auch für spezielle Kleingerätetests entwickelt wurde. Es ist mit Hochleistungsstahlrahmen, zwei Hochgeschwindigkeits-Scanpfaden und einer Stempelsortierer-Funktion konzipiert, die ihm die maximale Flexibilität und Genauigkeit verleiht. Darüber hinaus macht seine intuitive Benutzeroberfläche und Auto-Start-Funktionen Experimente und Datenerfassung mühelos.