Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9230418 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + ist ein Prober, der in der Halbleiterindustrie für elektrische und optische Tests verwendet wird. Dieser Prober ist als Full Automated Solution (FAS) für die Sondierung konzipiert, was einen effizienteren Durchsatz und höhere Erträge ermöglicht. Es ist mit einem automatisierten elektrischen Testsystem (ATES) ausgestattet und verwendet eine Kombination aus Optical Focus Analysis (OFA) und Vision & Alignment (VA) zur präzisen visuellen Inspektion von Halbleiterscheiben. Das ATES-System von TEL P12XLN + sondiert und greift automatisch auf die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben zu und ermöglicht es dem Benutzer, präzise Einstellungen basierend auf bereitgestellten Parametern vorzunehmen. Dieser Aufbau stellt sicher, dass der Wafer nach Herstellerangaben und den Produktionsanforderungen des Marktes getestet wird. Das von TOKYO ELECTRON P 12 XLN + angebotene FAS reduziert die Rüstzeiten und Trainingszeiten anderer in der Halbleiterindustrie eingesetzter Prober. Die von P-12XLn + eingesetzten OFA und VA ermöglichen eine präzisere Sichtprüfung der Halbleiterscheiben. Das OFA-System ist in der Lage, Fehler am Wafer schnell und genau zu identifizieren, wodurch der Benutzer zwischen einem Defekt und einem normalen Merkmal am Wafer unterscheiden kann. Mit dieser Funktion kann der Benutzer mögliche Probleme identifizieren, die behoben werden müssen, um ein erfolgreiches Produkt sicherzustellen. Die VA verwendet ein hochauflösendes optisches Mikroskop, um den Ort und die Größe eines Defekts zu messen. Dies hilft dem Anwender, mögliche Fehler zu identifizieren, bevor sie zu einem Problem im Produktionsprozess des Wafers werden. P 12 XLN + bietet dem Benutzer eine außergewöhnliche Benutzererfahrung. Es ist einfach zu bedienen, so dass der Benutzer schnell und einfach auf die Wafer-Funktionen mit einem Knopfdruck zugreifen kann. Die benutzerfreundliche Oberfläche bietet eine Reihe von Einstellungen und Parametern, die leicht zu verstehen und anzupassen sind. Die umfassenden Informationen von TEL P-12XLn + tragen dazu bei, dass die Wafer nach den gewünschten Produktionsparametern getestet werden. TEL P 12 XLN + ist einer der fortschrittlichsten Prober in der Halbleiterindustrie und kann zuverlässige und genaue Ergebnisse liefern. Seine FAS- und ATES-Systeme machen es zu einer idealen Wahl für schnelle Produkttests und eine genaue Bewertung von Wafern. Seine robuste und einfach zu bedienende Benutzeroberfläche und seine überlegenen visuellen Inspektionsmöglichkeiten machen es zu einer idealen Wahl für effiziente Tests neuer Projekte.