Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9236141 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn ist ein Prober-System zur Überprüfung der Leistung von Halbleiterbauelementen. Dieser Prober ist speziell für kleinere Arbeiten in Laboren hergestellt und bietet eine zuverlässige Plattform, um die elektrischen Eigenschaften eines beliebigen Geräts genau zu messen. Dieser Prober ist mit einer Positionsgenauigkeit ausgestattet, die innerhalb von ± 0,2 mm in einem 100 mm Traversenbereich gemessen wurde. Seine Präzision und Wiederholbarkeit verleihen ihm eine unglaublich hohe Genauigkeit, auch bei Langzeitanwendung. TEL P 12 XLN ist aus Aluminium-Stahlrahmen gefertigt, der kohlenstoffreichen Stahl für seine Komponenten verwendet. Dies ermöglicht dem Prober einen Hochleistungseinsatz, der für die Verifizierung von High-End-Halbleiterprozessorbauelementen erforderlich ist. Es hat auch einen eingebauten Sicherheitsmechanismus, der potenzielle Elektroschocks verhindert, was auch hilft, konsistente Ergebnisse und Genauigkeit während der Prüfung zu erhalten. Darüber hinaus sorgt die eingebaute Kamera innerhalb des Probers dafür, dass bei der Messung der Parameter eines beliebigen Geräts subtile Details analysiert werden können. Die Präzision und Wiederholbarkeit von TOKYO ELECTRON P-12 XLN ist nicht nur hervorragend, sondern der Prober hat auch eine kompakte Bauweise, die es ermöglicht, in sehr begrenzte Laborräume zu passen. Dies ermöglicht es Ingenieuren und Forschern, Tests und Experimente bequemer in Kleinserien durchzuführen. Ferner wird der Prober von einer 24V Gleichstromquelle angetrieben und verfügt über variable Drehzahlregelfunktionen, die leicht an die verschiedenen durchgeführten elektrischen Prüfungen angepaßt werden können. Diese Funktion, gepaart mit einer schnellen Datenübertragungsrate von bis zu 15 MB/s, sorgt dafür, dass die Datenergebnisse schnell zusammengestellt und analysiert werden können. Insgesamt ist TEL P-12XLn ein hochentwickeltes Probersystem, das sowohl Ingenieuren als auch Forschern erhebliche Vorteile bietet, die die Parameter von Halbleiterbauelementen genau messen müssen. Das System hat ein bemerkenswert robustes Design, und seine Kombination aus Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Komfort ermöglicht eine effiziente elektrische Prüfung und Analyse in Laboreinstellungen.