Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9274820 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + prober ist ein robustes, zuverlässiges Halbleitertest-, Inspektions- und Analysegerät, das speziell für die Charakterisierung von Wafern von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Der Prober verfügt über eine breite Palette von Funktionen, um seine Genauigkeit und Präzision beim Testen von Halbleiterbauelementen zu erhöhen. Es ist mit einem dreiachsigen kartesischen Koordinatensystem für die Wafer-Handhabung und -Positionierung ausgestattet, das es ermöglicht, einzelne Wafer auf dem Gerät zu isolieren und zu charakterisieren. Es hat einen hochgenauen linearmotorischen angetriebenen Kopf, um einen optimalen, wiederholbaren Testort zu gewährleisten. Der Prober ist auch mit einem Vakuumfutter-Tisch ausgestattet, um eine sichere und zuverlässige Bindung für Wafer während der Prüfung zu gewährleisten. TEL P12XLN + verfügt über eine hochauflösende Proberkamera, mit der die genauen Eigenschaften jedes einzelnen Geräts analysiert werden können. Dies trägt zur Erhöhung des gesamten Testdurchsatzes bei, indem eine genaue Charakterisierung einer größeren Probenfläche ermöglicht wird. Neben der Prober-Kamera kommt TOKYO ELECTRON P 12 XLN + mit einem 8-Zoll-Hydroxy-Echtzeit-Overhead-Monitor, der verwendet wird, um Echtzeit-Ergebnisse aller Analysen und Tests auf eine leicht verständliche Weise anzuzeigen. P 12 XLN + prober kommt auch mit einer intuitiven Benutzeroberfläche, entworfen, um den Halbleiter-Testprozess zu rationalisieren. Dazu gehört ein Touchscreen-Display, das eine schnelle Reaktion auf Befehle und eine grafische Überlagerung der aktuellen Messungen und Ergebnisse des Tests ermöglicht. P12XLN + umfasst auch fortschrittliche Messtechniken, wie mehrstufige Scan-Analyse, um genaue, wiederholbare Testergebnisse zu gewährleisten. Schließlich ist der Prober mit einem erweiterten Roboterarmsystem für automatisierte Tests konzipiert, mit dem Benutzer Tests ohne Unterbrechung schnell und genau wiederholen können. Dieser automatisierte Aspekt hilft bei der verbesserten Wiederholbarkeit, erhöhter Produktivität und einem verkürzten Entwicklungsprozess. Abschließend ist TEL/TOKYO ELECTRON P12XLN + prober eine äußerst zuverlässige und genaue Ausrüstung, die speziell für die Charakterisierung von Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Seine fortschrittlichen Funktionen, wie Roboterautomatisierung und kamerabasierte Analyse, helfen, den Halbleitertestprozess zu beschleunigen und genaue Ergebnisse zu gewährleisten. Die intuitive Benutzeroberfläche und die fortschrittlichen Messtechniken wurden ebenfalls entwickelt, um eine schnelle und genaue Prüfung von Geräten zu gewährleisten.