Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #177387 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein Prober, der in der Halbleiterindustrie verwendet wird. Es ist ein fortschrittlicher Wafer-Prober mit einem hochpräzisen Design, gebaut, um die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen zu messen. Der Prober verfügt über eine leistungsstarke Wafer-Klemmvorrichtung, die mit einem patentierten Schlitzdesign ausgelegt ist, um sicherzustellen, dass der Wafer fest gehalten wird, so dass extrem genaue Messungen durchgeführt werden können. Dieses System ist hochpräzise und kann Geräte mit Steigungsgrößen von bis zu 80µm messen. Der Prober hat auch die Fähigkeit, Messungen von der Vorder- und Rückseite des Wafers gleichzeitig durchzuführen, wodurch das Umkehren des Wafers vor dem Messen der Rückseite entfällt und dadurch der Prozess beschleunigt wird. Zusätzlich enthält es 500 gleichzeitige Kontakte zur genauen Prüfung und Messung sowie einen 10 mm Abstand zwischen den Kontaktpunkten. Neben seiner hochgenauen Funktion verwendet TEL P8-Prober auch High-Speed-Sampling-Technologie, um sicherzustellen, dass Tests, Kalibrierung und Korrektur schnell durchgeführt werden. Diese Funktion führt zu einer verbesserten Geschwindigkeit, Genauigkeit und Zuverlässigkeit. Darüber hinaus trägt die integrierte Messeinheit dazu bei, eine hohe Genauigkeit durch eine Verkürzung der Gesamtmesszeit zu gewährleisten. Der Prober hat auch mehrere zusätzliche Funktionen, die es zu einem der fortschrittlichsten Prober auf dem Markt zu machen helfen. Es verfügt über eine Reihe von Funktionen, die es sehr effizient machen, einschließlich eines Touchscreen-Displays und einer breiten Farbpalette, die es erleichtert, Objekte und Funktionen zu identifizieren. Darüber hinaus verfügt es auch über Auto-Inflation, die hilft, Ladezeit zu reduzieren und sorgt für ein optimales Wachstum. Darüber hinaus sorgt die fortschrittliche Inspektionsmaschine dafür, dass alle Datenpunkte vor dem Einsatz gescannt und analysiert werden. Insgesamt ist TOKYO ELECTRON P 8 prober ein hochentwickelter und effizienter Prober, der entwickelt wurde, um genaue und zuverlässige Messungen für Halbleiterbauelemente bereitzustellen. Sein hochpräzises Design und seine ausgeklügelten Funktionen sorgen für optimale Ergebnisse und sein fortschrittliches Inspektionstool trägt dazu bei, dass alle Daten ordnungsgemäß gewonnen und verwendet werden.