Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293620443 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein Prober zur Analyse und Prüfung elektronischer Bauelemente und Bauelemente auf einem Halbleiterwafer. Das Gerät bietet Kunden die Möglichkeit, eine Vielzahl von elektronischen Komponenten und Geräten schnell, genau und zuverlässig zu analysieren. TEL P8 verwendet fortschrittliche Optik und Robotik, um eine breite Palette von Daten aus den elektronischen Komponenten und Geräten zu extrahieren. Das Gerät verfügt über eine hochauflösende Auto-Fokus-Kamera, die dem Benutzer mit Auflösung und Klarheit bis zu submicron Ebenen. Darüber hinaus verfügt TOKYO ELECTRON P 8 über eine vollautomatisierte motorisierte Stufe, die in der Lage ist, Hochgeschwindigkeitsabtastung und Submikronpositionierung Genauigkeit. TOKYO ELECTRON P8 verwendet ein modernes optisches System, das eine automatisierte Zoomlinse für hochpräzise Oberflächenmessungen der zu prüfenden Geräte beinhaltet. Durch die Verwendung von hochauflösenden digitalen Farbsensoren und die mechanische Positionierung kann P8 präzise Bilder abbilden und sich auf enge Stellen der Mikrostruktur eines Geräts konzentrieren. TEL P 8 hat auch die Möglichkeiten, Kontaktwiderstand, Leckstrom und Geräte Schwellenspannungen zu messen. Die automatisierte Stufe in TEL/TOKYO ELECTRON P8 ist in der Lage, Halbleiterscheiben mit hoher Geschwindigkeit und Submikrongenauigkeit abzutasten und zu positionieren. Die Bühne unterstützt auch ein Infrarot-Ausrichtsystem von der Stange für absolute Genauigkeit auf mehreren und wiederholbaren Wafern. P-8 verfügt zudem über eine integrierte Software-Suite für Zwischen- und Fachanwender. Die Software-Suite verfügt über Funktionen wie eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, automatisierte Datenanalyse, Netzwerkkonfiguration und Anpassung von Rezepten. P 8 ist ein fortschrittlicher, modernster Prober für den elektronischen Gerätetest- und Analysemarkt. Es enthält eine Vielzahl fortschrittlicher Optik und Robotik zur Messung, Bildgebung und Analyse von Vorrichtungen auf Halbleiterscheiben. Die automatisierte Bühne, die fortschrittliche Optik und die intuitive Software-Suite bieten Anwendern ein einfaches und leistungsstarkes Werkzeug zur Analyse der Eigenschaften und Leistung von Halbleiterbauelementen.