Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293627763 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-8
ID: 293627763
Weinlese: 1999
Prober VIP Tester interface: GPIB and TTL Air: 0.4~0.7 MPA Vacuum: -50 Kpa or less Temperature range: 25°C Power consumption: .0.8 KVA Power supply: 115 VAC, 50/60 Hz, 8 A 1999 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8 prober ist ein Werkzeug zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Waferoberflächen. Sie beruht auf der genauen Messung des Kontaktwiderstandes zwischen Wafer und einer kleinen Kugelsonde. Der Prober zeichnet sich durch hohe Genauigkeit und Reproduzierbarkeit sowie eine geringe piezoresistive Kraft aus, die ohne Kontakt zwischen Sondenspitze und Probenoberfläche gemessen wird. Der Prober besteht aus einer Sondenplatte, die auf einer beweglichen Basis montiert ist, die sich in X- und Y-Richtung bewegen kann, sowie einer vertikalen Z-Achsen-Plattform, die die Kraft und den Kontakt der Sonde antreibt. Die innere Struktur besteht aus drei Teilen: die obere vertikale Stufe, die mittlere und die untere vertikale Stufe. Die obere und untere Stufe sind auf zwei Säulenbaugruppen montiert, und die bewegliche XY-Stufe wird in der Mitte platziert. Der Prober kann mit einem Desktop-PC betrieben werden, der über eine IEEE-488 Schnittstelle angeschlossen ist. Es ist auch mit einem elektronischen Modul ausgestattet, das zur Steuerung des Z-Achsen-Vertikalantriebsmotors dient und es dem Bediener ermöglicht, Kraft und Anpreßdruck der Sonde auf der Waferoberfläche einzustellen. Die Software-Schnittstelle liest die Messsignale aus und ermöglicht es dem Anwender, die Messgrößen einzustellen. Der Prober ist für den Betrieb in einer Umgebung unter 300 Pascal statischen Druck. Es ist mit einem speziellen optischen Ausrichtsystem und einer Autofokus-Funktion ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, scharf wechselnde Oberflächen genau zu messen und die Tasterkontaktkraft leicht einzustellen. Das System kann verwendet werden, um eine Vielzahl von elektrischen Eigenschaften der Probenoberfläche zu messen, einschließlich Spannung, Oberflächenpotential, Serien- und Parallelwiderstand, Kontaktwiderstand und Leckstrom. Der Prober verfügt auch über erweiterte Funktionen wie eine flexible Programmiersprache zur Steuerung des Z-Achsen-Motors, eine einzigartige Oberflächenanalysesoftware und eine breite Palette von Sonden. Der Prober ermöglicht es dem Bediener, mehrere Rezepte einzurichten und wiederholbare Messungen zu ermöglichen, die zuverlässiger sind als manuelle Operationen. TEL P8 ist ein effizienter, zuverlässiger und präziser Prober mit umfangreichen Funktionen und Dienstprogrammen. Seine einfach zu bedienenden, hochgenauen und zuverlässigen Funktionen bieten hervorragende Messfähigkeiten für eine Vielzahl von elektrischen Eigenschaften der Probenoberfläche. Als solches ist es ein ideales Werkzeug für die Prüfung und Herstellung von Wafern.
Es liegen noch keine Bewertungen vor