Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293658787 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein Wafer-Prober, der verwendet wird, um Wafer genau zu positionieren, die elektromechanischen Eigenschaften von integrierten Schaltungen wie Strom, Spannung, Kapazität und Induktivität zu messen und zu analysieren. TEL P8 besteht aus einem X-Y-Tisch, einem Wafer-Spannfutter, vier Dehnungsschleifkraftsensoren und zwei Sehköpfen, einem Hauptmotor und einer Hauptsteuereinheit. Die X-Y-Tabelle steuert die Platzierung des Wafer-Futters und ist in der Lage, bis zu 10 nm Schritten mit 0,1 nm Genauigkeit über seinen 86mm Verfahrbereich zu bewegen. Das Wafer-Futter ist für Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 8 Zoll ausgelegt und kann bis zu 6 mm mit einer Genauigkeit von 0,1 nm bewegen. Es enthält auch ein Überwachungssystem, um Aufprall oder Vibrationen zu erkennen. Die vier Dehnungsschattenkraftsensoren dienen zur Messung der elektromechanischen Eigenschaften der Wafer. Die beiden Sehköpfe werden verwendet, um die Geräteleistung zu überprüfen und die Auffälligkeiten oder Fehlermodi zu erkennen. Der Hauptmotor von TOKYO ELECTRON P 8 ist die Atlas-Steuereinheit. Diese Einheit ist in der Lage, alle Aspekte der TOKYO ELECTRON P-8 Operationen einschließlich Bewegung, Kraftsensoren, Sehköpfe und Temperaturen zu steuern. Die von der Einheit gesammelten Daten werden in Form von Vektoren dargestellt, die dann zur Erzeugung grafischer Darstellungen der Charakterisierungen, des Geräteleistungstests und der Analyseergebnisse verwendet werden. Die Hauptsteuereinheit von TEL P-8 ist die ParaVision M2. Dieses Gerät wird verwendet, um alle Aspekte der Funktionen der Sonde zu steuern, einschließlich Bewegung, Kraftsensoren, Sehköpfe und Temperaturen. Diese Einheit speichert auch alle gesammelten Daten und kann in Echtzeit für weitere Analysen aufgerufen und manipuliert werden. Insgesamt ist P8 ein wirksames Werkzeug zur genauen Positionierung von Wafern, zur Messung der elektromechanischen Eigenschaften von integrierten Schaltungen und zur Erzeugung grafischer Darstellungen der Charakterisierungen und Geräteleistungstests. Dieses All-in-One-System verkörpert Präzision und Genauigkeit, sodass Anwender zuverlässige Ergebnisse für ihre Anwendungen erzielen können.