Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293667431 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein fortgeschrittener Rasterelektronenmikroskop (SEM) -Prober, der für die automatisierte Analyse und Prüfung von Halbleiterscheiben entwickelt wurde. TEL P8 wurde entwickelt, um den Anforderungen moderner Halbleiterherstellungsprozesse gerecht zu werden. Es ist eine innovative Plattform, die die Fähigkeiten eines hochmodernen SEM mit dem Komfort eines produktionsfertigen Wafer-Probers verbindet. TOKYO ELECTRON P 8 bietet eine vollständige Palette von erweiterten Funktionen sowohl für High-End-Analyse und Produktionstests. Es verfügt über ein patentiertes zweistrahliges SEM, einen einzigartigen 10-stufigen Motorantrieb, eine große Probenkammer und automatisierte Positionierer, um eine schnellere Probenanalyse zu ermöglichen. TEL P 8 verfügt über eine intuitive GUI-Schnittstelle, die eine einfache Einrichtung und Bedienung des Instruments ermöglicht. TEL/TOKYO ELECTRON P8 ist in der Lage, eine Vielzahl von Tests zur Oberflächenanalyse (SA) und zur elektrischen Charakterisierung (EC) durchzuführen, die ein schnelles Verständnis der Geräteeigenschaften ermöglichen. Das Dual-Beam SEM ermöglicht die gleichzeitige visuelle Bildgebung und elektrische Prüfung, die eine schnelle Auswertung der Mikrostrukturen von IC-Geräten ermöglicht. Der 10-stufige Motorantrieb ermöglicht automatisiertes Wafer Handling und Schrittmotorsteuerung. Dies ermöglicht eine präzise Abtastung einer großen Probenfläche bei hohen Durchsatzraten. P8 eignet sich sowohl für fortgeschrittene analytische als auch für produktionsorientierte Anwendungen. Es ist sehr vielseitig einsetzbar und kann leicht an kundenspezifische Prüfanforderungen angepasst werden. Darüber hinaus verfügt TOKYO ELECTRON P8 über einen hohen Durchsatz und kleine Probengrößen, so dass es die ideale Wahl für Produktionstests, sowie Fehleranalyse von Halbleiterbauelementen. Dieser leistungsstarke SEM-Prober ist ein wesentliches Werkzeug zur Bewertung der physikalischen und elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen. Die Kombination aus ausgeklügelter Funktionalität, Automatisierung und einfacher Bereitstellung machen es zur idealen Wahl für Geräteauswertungen und Produktionstests.