Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293742045 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein hochspezialisierter Prober, der zur Inspektion von Halbleiterwafern verwendet wird. Dieser Prober ist eine mehrachsige Ausrüstung mit einem großen Bewegungsbereich und hoher Genauigkeit. TEL P8 prober verfügt über eine XYZ-Theta-Tabelle, die eine schnelle und präzise Ausrichtung von Wafern ermöglicht. Es hat eine maximale Rotation von 360 Grad und erhöhte Stufenstabilität, die genaue und wiederholbare Ergebnisse liefert. Der Prober kann in Umgebungen bis 35 ° C arbeiten und hat eine Genauigkeit von ± 2 μ m. TOKYO ELECTRON P 8 bietet auch eine breite Palette von Sondentechnologien, die Kapazität, Widerstand, Strom und Induktivität umfassen. Dies ermöglicht die Prüfung einer Vielzahl von Halbleitertypen, einschließlich einzelner ICs, Multi-Chip-Module und Leiterplatten. Der Prober verfügt auch über ein eingebautes Vision-System, um die genaue Ausrichtung einzelner ICs und anderer integrierter Schaltungen zu ermöglichen. P-8 verfügt über eine integrierte Echtzeit-Temperatursteuereinheit für Sonden, die es ermöglicht, genaue Messungen bei hoher Temperatur oder Druck durchzuführen. Dadurch entfällt die Notwendigkeit zusätzlicher Kühlkomponenten, wodurch der Prüfprozess gestrafft wird. Der Prober umfasst auch eine robuste zugrunde liegende Architektur, die Anwendern höhere Zuverlässigkeit, Stabilität und Geschwindigkeit bietet. Es läuft auf einer FPGA-basierten Plattform mit einem Windows-Betriebssystem, wodurch Benutzer eine optimierte Benutzererfahrung erhalten. Dank der integrierten Überwachungs- und Diagnosefunktionen können Benutzer bei Problemen schnell und einfach Fehler beheben. TEL/TOKYO ELECTRON P8 ist ein All-in-One-Prober, der die neuesten Technologien in der Prober-Automatisierung anbietet. Mit seinem XYZ-Theta Tisch und eingebauten Diagnose- und Überwachungsfunktionen ist dieser Prober eine gute Wahl, um eine breite Palette von Halbleiterbauelementen zu testen. Darüber hinaus ist die Palette der Sondentechnologien eine ideale Wahl für die Prüfung einzelner ICs, Multi-Chip-Module und Leiterplatten.