Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293807112 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein hochpräziser, automatisierter Prober, der für überlegene Werkzeugherstellung und Halbleiterinspektion entwickelt wurde. Diese Maschine dient zur Untersuchung und Sondierung von Halbleiterwerkzeugen für elektrische und physikalische Messungen. Es wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Wafer- und Gesenkpaketen von klein bis groß unterzubringen, um die Prüfung komplexer 3D-und Flip-Chip-Designs zu unterstützen. Der Kern des Probers ist sein Laserscanmechanismus, der maximale Genauigkeit und Vielseitigkeit in der Wafer- und Stanznavigation bietet. Der Laser-Scan-Kopf ist in der Lage, bis zu 4 Mikrometer zu scannen, so dass er ideal für Präzisionsmessungen und Sondierung von Strukturen zu klein ist, um mit einem herkömmlichen optischen Mikroskop betrachtet zu werden. Zur Gewährleistung der Genauigkeit ist der Prober auch mit einer Autofokus-Routine ausgestattet, die sich ständig an die Höhe des Wafers oder Gerätes anpasst. Dies hilft auch, Streuungen aufgrund von Fehlstellungen des Scankopfes zu verhindern und die Datengenauigkeit zu verbessern. Der Prober wird durch eine Reihe automatisierter Mechanismen für mehr Geschwindigkeit, Genauigkeit und Präzision weiter verbessert. Es verfügt über einen Hochgeschwindigkeits-Sondenarm zur Kontaktsondierung mit Wiederholbarkeit sowie einen Luftstrahl zur berührungslosen Sondierung. Seine automatisierte XYZ Bewegungsausrüstung ist in der Lage, den Proberkopf in extrem präzisen Winkeln zu positionieren und einzustellen. Das System kann auch mit einer optionalen Arbeitskopf-Scan-Bewegungseinheit konfiguriert werden, um Wafer in verschiedenen Neigungswinkeln zu testen. TEL P8 prober verfügt über eine Reihe von Diagnose- und Messwerkzeugen und Funktionen. Benutzer können für die Musteranalyse und den Werkzeugvergleich zwischen Gesamtbildaufnahme (Total Image Capture) und Vergrößern (Zoom Image Capture) auswählen. ELEKTRON P 8 von TOKIO hat auch eine erhöhte Hochleistungsdrehmaßmaschine dafür sterben Bereich und Substratmaße, sowie ein Autofokuswerkzeug für die erhöhte Datengenauigkeit. Um eine zuverlässige Bedienung und Einstellung des Probers zu gewährleisten, werden die automatisierten Diagnosen und Einstellungen auf einem integrierten Speicherchip gespeichert. TEL P 8 ist ein fortschrittliches Prober-Asset, ideal für Wafer und die Sondierung, Prüfung und Inspektion. Es kombiniert Präzisions-Laserscanning mit einer Reihe von automatisierten Sondierungs- und Bildgebungsgeräten für zuverlässige Messungen und Positionierung. Seine Kalibrier- und Diagnosefunktionen gewährleisten eine hervorragende Datengenauigkeit und Wiederholbarkeit für maximale Prozesseffizienz.