Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809515 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein Prober zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben und -bauelementen. Es ist mit einer automatischen Wafer-Mapping-Fähigkeit und umfassenden Bedienungsfunktionen ausgestattet. Die leistungsstarke Ausrüstung ist für Präzisionsmessungen und stabilen Betrieb in modernen IC-Fertigungsprozessen ausgelegt. TEL P8 ist der neueste Prober in der Familie der TEL-Prober-Produkte mit High-End-Funktionen und fortschrittlicher Technologie. Es bietet überlegene elektrische Messungen, wie z.B. Source Measure Units (SMUs), die Hochspannungs- und/oder Niederstrommessungen ermöglichen. Die automatische Wafer-Mapping-Fähigkeit macht es ideal für die Prüfung feiner Strukturen einschließlich DRAM, SRAM und Logik-RAM-Anwendungen. Es ist ideal für erweiterte Speicher- und Logikprozesse, wie LESE- und WRITE-Funktionen, sowie für die Prüfung großer Verteilnetze. Dieser fortschrittliche Prober ist in der Lage, einen großen Dynamikbereich bis zu 0.1mA und bis zu 10 Amp zu messen. Das Design von TOKYO ELECTRON P 8 basiert auf einem modularen Aufbau und ist somit ein vielseitiges und leistungsstarkes System. Das Basismodul von TEL/TOKYO ELECTRON P 8 ist eine fortschrittliche Wafer-Handhabungseinheit, die eine kompakt montierte Bühnen- und Waferkassettenanordnung verwendet, um eine präzise Wafer-Kartierung und die Platzierung vor Ort zu gewährleisten. Die Rückwandplatine des Probers ist mit einem UKW-Funkmodul ausgestattet, um die Fernprogrammierung und den Datendownload zu erleichtern. Die Maschine verfügt zudem über eine benutzerfreundliche grafische Oberfläche, die den Testaufbau anzeigt und zu einem leicht verständlichen grafischen Format führt. Darüber hinaus bietet das Tool eine Vielzahl von Testmustern sowie eine einfache und intuitive Batchmodus-Bedienung. P8 verfügt außerdem über eine Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung, die eine Echtzeit-Testergebnisanzeige und eine schnelle Wiederholungsfähigkeit ermöglicht. Dieses Modell hat eine Datenerfassungsgeschwindigkeit von bis zu 50Ms/s, die für Hochfrequenztests geeignet ist. TOKYO ELECTRON P8 ist mit einer Vielzahl von Wafergrößen von 200 mm bis 300 mm kompatibel. Darüber hinaus verfügt es über eine exklusive Fähigkeit zur Lückenregelung, die genaue dynamische Testprogramme ermöglicht. Insgesamt ist TOKYO ELECTRON P-8 ein Top-of-the-Line-Prober, der präzise elektrische Messungen und stabile Abläufe in modernen IC-Fertigungsprozessen ermöglicht. Es bietet erweiterte Wafer-Mapping-Fähigkeit, Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung, großen Dynamikbereich und Kompatibilität mit einer Vielzahl von Wafergrößen. TEL P-8 verfügt zudem über eine intuitive Benutzeroberfläche, die eine benutzerfreundliche Programmierung und Datenanzeige ermöglicht. Dieses Gerät eignet sich sowohl für erweiterte Speicher- und Logikprozesse als auch für Hochfrequenztests.