Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809518 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-8
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-8
ID: 293809518
Wafergröße: 8"
Prober, 8".
TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein fortschrittlicher Prober, der die Prüfung und Bewertung von Halbleiterwafern erleichtert. TEL P8 ist eine multifunktionale Plattform, die in der Lage ist, eine breite Palette von Parametern an der Oberfläche des Wafers zu messen. Dieser Prober kann zusätzlich zu seinen physikalischen Eigenschaften und Parametern die elektrischen Eigenschaften, wie Kapazität, eines Halbleiterbauelements messen. Das Design und die Technologie von TOKYO ELECTRON P 8 ermöglichen es, Waferparameter genau zu messen und zu analysieren, was es zu einem wertvollen Werkzeug für die Entwicklung und Produktion macht. Mit einem voll modularen Aufbau ermöglicht P8 den Einsatz eines breiten Spektrums an Sonden und Prüfköpfen. Dazu gehören Prüfköpfe zur Messung von Kapazität, Widerstand, Dielektrizitätskonstante, Spannungsprüfung und optischer Intensität. P 8 hat auch eine Option für ein Hochtemperaturfutter, so dass es für Messungen bei erhöhten Temperaturen verwendet werden kann. Neben seiner Flexibilität und Zuverlässigkeit ist TEL/TOKYO ELECTRON P8 auch mit fortschrittlicher Software und optionalem Zubehör ausgestattet. Seine Software wurde entwickelt, um die Analyse von Messungen zu erleichtern, um ihre Genauigkeit und Integrität zu bestimmen. Die Software bietet Datenbankunterstützung, automatische Datenerfassung und -analyse, Berichtsgenerierung sowie interaktive Programmierung und Steuerung. Mit Total Integrated Standard Control (TISC) können Anwender auch mehrere Testköpfe verwalten, den Messablauf automatisieren und mehrere Aufträge bearbeiten. TEL/TOKYO ELECTRON P 8 kommt auch mit einer Reihe von optionalen Zubehör zur Unterstützung der Palette von Anwendungen, für die es verwendet werden kann. Dazu gehören eine entfernte Wärmekammer und ein Wafer-Handhabungsarm, die beide entscheidend für genaue Messungen von Wafern bei erhöhten Temperaturen sind. Das System ermöglicht auch die Verwendung einer Reihe von Werkzeugen, wie beispielsweise Oberflächenabtastsonden und optoelektronische Instrumente. Darüber hinaus verfügt es über die Möglichkeit, mit einer Vielzahl von Zubehörteilen wie Mikrowellensonden, berührungslosen Messtechnik-Instrumenten und Kraftmessgeräten angepasst zu werden. P-8 Prober ist eine zuverlässige und sehr vielseitige Lösung zum Testen von Halbleiterscheiben. Mit seiner fortschrittlichen Software und dem breiten Spektrum an Sonden und Testköpfen bietet es eine robuste Lösung zur Messung von Waferparametern und zur Analyse von Ergebnissen. Darüber hinaus ermöglicht die Flexibilität und das Angebot an optionalem Zubehör eine individuelle Anpassung an eine Vielzahl von Anwendungen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor