Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809907 zu verkaufen

Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-8
ID: 293809907
Weinlese: 2000
Prober VIP3 Semi-Automatic Probe Card Change (SACC) Wide-Area Probe Polish (WAPP) Golden chunk Optical Character Recognition (OCR) 2000 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein Prober-Instrument, das sehr kleine elektronische Komponenten handhabt und misst. Sein Design basiert auf einer Kombination aus elektrostatischen und dielektrischen Prinzipien, um eine hochgenaue, rauscharme Umgebung für die Verarbeitung elektronischer Komponenten zu schaffen. TEL P8 hat ein einzigartiges Design, das eine kombinierte Ladung-Entladung-Ausrüstung mit einem veränderbaren Spannungsbereich von -30V bis 30V und eine kapazitive Stromversorgung mit einstellbarer Strombegrenzung verwendet, um präzise Messungen und Verarbeitung kleiner Proben zu ermöglichen. Die Maschine hat eine breite Palette von Anwendungen und kann verwendet werden, um verschiedene Aufgaben auszuführen, wie Wafer-Sondierung, MEMS-Prüfung, Strahlführungstest, Gerätetests und Nanotechnologie-Tests. TOKYO ELECTRON P 8 ist mit einem digitalen Hochgeschwindigkeitsvolt-Meter (DVM) und einem digitalen Hochgeschwindigkeitsfrequenzzähler (DFC) ausgestattet, um die angelegte Spannung und Frequenz der Proben genau zu messen und zu überwachen. Darüber hinaus ist die Maschine auch mit fortgeschrittener Kommunikation Modbus/TCP und USB ausgestattet, die den Fernzugriff und die Kommunikation mit anderen an P-8 angeschlossenen Geräten ermöglichen. TEL P-8 verfügt zudem über einen vollen dielektrisch abgeschirmten Tunnel und ein schwingungsarmes Design, das die sichere Handhabung von Bauteilen und genaue Messungen ermöglicht. P 8 enthält auch ein vibro- acoustic compensation (VCA) -System, das hilft, Lärm und Vibrationen von der Beeinflussung der Messungen zu verhindern. Außerdem verfügt die Maschine über eine dielektrisch abgeschirmte Tunnel-kapazitive Klemme, die ein sicheres Klemmen von Proben am Detektor gewährleistet. P8 umfasst auch eine automatische Fehlererkennung und eine Low-Profile-geschirmte Umgebung (LPSE) zur Verringerung des Schadensrisikos an empfindlichen elektronischen Komponenten. Die automatische Fehlererkennungsmaschine kann alle offenen oder Kurzschlüsse zwischen dem Erdkontakt und den Messpunkten erkennen. Darüber hinaus wurde die Low-Profile Shielded Environment (LPSE) entwickelt, um das Risiko von EMI-Störungen zu reduzieren, die sich auf die Genauigkeit auswirken können. Die Maschine wird auch mit fortschrittlicher Software wie Wafer-Tracking, Datenerfassung und -analyse, Profilsortierung und umfangreicher Protokollierung ausgestattet. Die Software TOKYO ELECTRON P8 wurde entwickelt, um eine effiziente und genaue Datenerfassung und -analyse zu ermöglichen und gleichzeitig einen sicheren Zugriff auf alle gespeicherten Daten zu ermöglichen. TOKYO ELECTRON P-8 ist eine ausgezeichnete Wahl für fortschrittliche Nanotechnologie und MEMS-Tests, da es auf maximale Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Sicherheit ausgelegt ist. Es ist auch ideal für die Prüfung und Verarbeitung von elektronischen Komponenten in Halbleiter-, Datenspeicher- und anderen Branchen.
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