Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293823435 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-8
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-8
ID: 293823435
Prober.
TEL (TOKYO ELECTRON) TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist eine Halbleiter-Sondenstation, die entwickelt wurde, um eine Vielzahl von elektrischen Charakterisierungs- und Sondierungsaufgaben an Wafer-Fühlern durchzuführen. Dieser Prober bietet wiederholbare, hochpräzise Leistung mit hohem Durchsatz, Stabilität und Genauigkeit. Mit TEL P8 Prober können Benutzer schnell und einfach eine Vielzahl von elektrischen Eigenschaften überprüfen und erhalten, einschließlich Temperaturkoeffizienten von Widerständen, Impedanz, Spitzenstrom und Rauschmessungen. TOKYO ELECTRON P 8 ist ein äußerst zuverlässiges, vielseitiges und leistungsstarkes Werkzeug zum Testen einer Vielzahl von Geräten ab wenigen Mikrometern Größe bis zu Hunderten von Mikrometern und viel größer. Es verfügt über eine anpassbare unabhängig verstellbare obere und untere Luftlagerstufe, die eine genaue und wiederholbare Platzierung von Proben ermöglicht. Seine 200-mm-Spindel bietet eine Vielzahl von Wafergrößen, einschließlich einer Reihe von Standard- und Niedertemperatur-Sondiersubstraten. Die fortschrittliche Optik von P 8 liefert scharfe Bilder und ermöglicht eine genaue Ausrichtung der Sondenspitzen und Probe auf Submikron-Genauigkeiten. Mit einer umfangreichen Auswahl an automatisierten Ausrichtungs- und Testfunktionen führt P8 prober schnell und einfach eine Vielzahl komplexer Messungen und Tests durch. Es verfügt über einen voll integrierten HF-Tester mit niedriger Leistung, so dass der Benutzer die HF-Frequenz von Geräten im Vergleich zu anderen Sondenstationen mit größerer Genauigkeit charakterisieren kann. Neben den fortschrittlichen optischen Möglichkeiten bietet TEL/TOKYO ELECTRON P 8 auch eine breite Palette an optionalen elektrischen Testvorrichtungen und Zubehör. Die einstellbaren Leuchtdioden (LED) -Wafer-Sonden und die x-y-Roboter-Probenstufe sorgen für einen selbsttätigen, automatisierungsbereiten Betrieb für noch höhere Prüfgenauigkeit und Durchsatz. Weitere Merkmale sind Hochgeschwindigkeits-Probenladen, Positionieren und Entladen, gemusterte Wafertests und automatisierte Scanfunktionen. P-8 prober ist ein wesentliches Werkzeug zur Optimierung der Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit von Halbleiterherstellungsprozessen. Es bietet eine sehr stabile und wiederholbare kontrollierte Umgebung, die es Betreibern ermöglicht, die Integrität von Halbleiterbauelementen genau und schnell zu testen. Dieser leistungsstarke, vielseitige, langlebige und kostengünstige Prober hilft Herstellern, den Ertrag zu verbessern, die Produktionskosten zu senken und die Inspektionszeiten zu verbessern.
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