Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9069025 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein Prober, der für Hochleistungs-Wafer-Level-Tests entwickelt wurde. Es ist eine anspruchsvolle Ausrüstung, die präzise und zuverlässige Prüfergebnisse mit hoher Präzision liefern kann. TEL P8 prober bietet eine Kombination aus Inline-Sondierung, elektrooptischer Inspektion und Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung. P 8 prober ELEKTRON-Eigenschaften von TOKIO haben automatische Oblatenanordnung und Hochleistungsuntersuchungsfähigkeit vorgebracht, die berücksichtigt, dass genaue und effiziente Oblate forschend eindringt. Es wurde entwickelt, um die Waferausrichtung und den richtigen Füllfaktor während der Sondierung zu erhalten, auch durch gemusterte Funktionen auf dem Wafer. Es verfügt auch über ein In-situ-Überwachungssystem, das dem Benutzer die volle Kontrolle über das Messmodul und die Datenausgabe gibt. TOKYO ELECTRON P8 ist auch mit einem hochauflösenden elektro-optischen Inspektionssystem ausgestattet, das kontrastreiche Bilder für die Waferdefektinspektion aufnehmen kann, und eine webbasierte Benutzeroberfläche für eine einfache Bedienung. Alle diese Systeme bieten dem Anwender eine umfassende Überwachungsplattform für Wafertests. Darüber hinaus ist P 8-Prober für die Integration in automatisierte Testsysteme konzipiert und liefert nahtlose und effiziente Testergebnisse. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Testkomponenten zu handhaben, darunter Widerstände, Kondensatoren, Dioden, Transistoren und Antennen. TEL/TOKYO ELECTRON P 8 prober wurde entwickelt, um zuverlässige Testergebnisse unter extremen Bedingungen mit Temperaturen bis 2000 ° F zu liefern. Darüber hinaus verfügt es über ein ausgeklügeltes Diagnosesystem, das Fehler in den Messsystemen diagnostizieren und potenzielle elektrische Testprobleme frühzeitig erkennen kann. Insgesamt ist TEL/TOKYO ELECTRON P8 prober eine ideale Wahl für die anspruchsvollsten Anforderungen an Wafer-Level-Tests. Mit seinen erweiterten Funktionen und Funktionen bietet es genaue und schnelle Ergebnisse und ermöglicht es Benutzern, potenzielle Fehler in ihren Wafern schnell zu identifizieren.