Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9144942 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein Prober zur Sondierung von Leistung und analogen Geräten. Es ist ein flexibles und effizientes Werkzeug zum Testen komplexer Wafer-Level-Geräte, einschließlich Speicher und biometrische Geräte. Es kann Fehler genau erkennen und das Risiko einer Beschädigung empfindlicher Teile während des Betriebs minimieren. Der Prober verfügt über eine komplette Reihe von Funktionen, darunter schnelle Scangeschwindigkeiten, ausgezeichnete Messgenauigkeit und erweiterte Laserausrichtungsfunktionen. Es ist mit hochauflösenden Motoren, Aktoren und bildgebenden Systemen ausgestattet, um Genauigkeit und Stabilität zu gewährleisten. Der Prober verwendet auch proprietäre Software für Wafer-Ausrichtung und on-the-fly Testprogramm Zusammenstellung. TEL P8 prober bietet hocheffiziente Leistung. Es kann Wafer-Level-Tests von 265 Geräten pro Stunde durchführen, 256 Testschritte pro Sekunde durchführen und entweder Pass/Fail oder Open/Close-Zustand jedes Testpunkts bestimmen. Die hocheffiziente Leistung stellt sicher, dass Kunden ihre Tests schnell abschließen und dennoch zuverlässige Ergebnisse erzielen. Der Prober hat einen modularen Aufbau, der einfach konfiguriert und in bestehende Produktionslinien integriert werden kann. Es kann mit verschiedenen Systemen verbunden werden, um Testprozesse zu automatisieren und ist erweiterbar, um veränderte Anforderungen zu erfüllen. Die Software ist benutzerfreundlich, effizient und einfach zu bedienen, so dass Kunden ihr Programm für komplexe Testdesigns ändern und erweitern können. Entwickelt für Zuverlässigkeit und Leistung, TOKYO ELECTRON P 8 prober ist eine ideale Testlösung für eine breite Palette von High-End-Anwendungen. Es bietet unübertroffene Genauigkeit und Empfindlichkeit und stellt sicher, dass Kunden zuverlässige und konsistente Ergebnisse erzielen. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und leistungsstarken Funktionen ist der Prober eine perfekte Wahl für eine effiziente und zuverlässige Untersuchung von Leistung und analogen Geräten.