Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9167948 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-8
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-8
ID: 9167948
Wafergröße: 8"
Prober, parts machine, 8" Top loader D204 Type.
TEL Model TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Prober ist ein vollautomatischer Einkopf-Testprober, der sowohl in manuellen als auch in automatischen Modi erhältlich ist, um eine breite Palette von Wafern verschiedener Formen und Größen zu handhaben. TEL P8 Prober ist eine vollautomatische Ausrüstung mit einem hohen Maß an Reaktionsfähigkeit und Genauigkeit, so dass es für Fehleranalyse, Prozessentwicklung und Qualitätskontrolle geeignet ist. ELEKTRON P 8 Prober von TOKIO wird entworfen und für die Hodurchflussproduktion gebaut, um hohe Geschwindigkeit, große Höchsthalbleitergeräte zu prüfen. Seine große dreistufige, verstellbare Overhead-Plattform kann verschiedene Wafergrößen von 50 bis 300 mm im Durchmesser aufnehmen. Das eingebaute System überprüft den Wafer, um sicherzustellen, dass der Wafer flach und richtig sitzt, bevor der Prüfvorgang beginnt. TOKYO ELECTRON P-8 Prober verfügt außerdem über eine Vakuumaufnahmeeinheit zum genauen Positionieren und Transportieren des Wafers. Seine eingebaute Bewegungssteuermaschine bietet eine präzise und wiederholbare unabhängige Bewegung des Waferkarussells und des Tastkopfes. TEL P 8 Prober kann mit bis zu 20 Wafern beladen werden, die einzeln getestet und markiert werden. Das Werkzeug ist mit einem modularen Verstärker und einer flexiblen Konfiguration ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, jeder Teststufe spezifische Operationen zuzuweisen (z. B. Funktionsscannen, Burn-In und mehr). Die offene Plattformarchitektur ermöglicht die Kommunikation mit bestehenden Netzwerkumgebungen und die vollständige Steuerung der Maschine über Windows-basierte HMI/SPS-Software. Der von TOKYO ELECTRON P8 Prober verwendete fortgeschrittene Testkopf kann Kurzschlüsse, Unterbrechungen und andere Anomalien im Halbleiterbauelement zuverlässig erkennen. Es verfügt über eine integrierte hochauflösende Videokamera und LED-Beleuchtung, um eine genaue visuelle Identifikation und Analyse des Geräts sicherzustellen. Der Prüfkopf ist mit einem leistungsstarken 5-AXIS Servo-Steuermodell für genaue, schnelle Sondierung ausgestattet. Der Prüfkopf verfügt zudem über eine eingebaute Luftfiltereinrichtung zur verbesserten Kontaminationskontrolle. P8 Prober hat einen modularen Aufbau, der eine hervorragende Flexibilität für die Anpassung des Systems an die spezifischen Bedürfnisse des Benutzers bietet. Die verschiedenen verfügbaren Optionen umfassen eine Vielzahl von Kraftkalibrierungen, Befestigungsmontage, Testkopfperforation und Chip-Erkennung. Das Gerät verfügt außerdem über eine zuverlässige, intuitive Software zur einfachen Bedienung und planmäßigen Programmierung von Tests und realistischen Simulationen zum besseren Verständnis der Testergebnisse. P-8 Prober liefert eine außergewöhnliche Qualität der Sondierung bei hohen Geschwindigkeiten und Präzision. Die Maschine ist robust, zuverlässig und einfach zu bedienen und ist eine gute Wahl für die Prüfung und Fehlerbehebung neuer und vorhandener Halbleiterbauelemente.
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