Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9167950 zu verkaufen
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TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein Prober zur Reinigung und Herstellung von Kontakt zwischen Sonden und Proben. Die Sonde dient zur Durchführung von Sondenmessungen, elektrischen Kontakttests, Datenerfassung und Scanmessungen. Es verfügt über die Fähigkeit zur Mehrpunkt-Sondierung und die Sonden sind auf einem speziellen Abtastkopf montiert, der sich über die Proben bewegt. TEL P8 wurde entwickelt, um genaue und wiederholbare Ergebnisse aus der Wafer-Sondierung zu liefern, auch bei komplexen Proben. Es verfügt über einen automatischen Ausrichtmechanismus, um einen überlegenen Kontakt mit der Probenoberfläche während des Scanvorgangs zu gewährleisten. Diese Ausrichtung verbessert die Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Sondierungsergebnisse. TOKYO ELECTRON P 8 bietet auch eine zuverlässige Möglichkeit, Sondenspitzen über die Probenoberfläche zu verteilen. Es kann Kontaktfehler natürlich und automatisch erkennen, was eine verbesserte elektrische Prüfgenauigkeit ermöglicht. Darüber hinaus ist P 8 so konfiguriert, dass es eine überlegene Datenextraktionsgenauigkeit und schnelle Scangeschwindigkeit bietet und wiederholbare und genaue Messungen ermöglicht. TEL/TOKYO ELECTRON P8 profitiert auch von verschiedenen automatisierten Funktionen, einschließlich Sondennadelreinigung, automatische Dickeneinstellung und Kalibrierung. Dies hilft, mögliche Fehler bei der Kontaktbildung zu verhindern, die zu ungenauen Testergebnissen führen können. TOKYO ELECTRON P8 verfügt auch über ein ergonomisches Design, das es einfacher zu bedienen und komfortabler für den Bediener macht. Schließlich wird P8 mit einem speziellen Schwingungsdämpfungssystem für den Einsatz in Reinraumumgebungen gebaut. Dieses Design, kombiniert mit dem Sondenhandhabungssystem und zuverlässiger Leistung, macht TOKYO ELECTRON P-8 zu einem wertvollen Werkzeug für jede Halbleitersonde und jeden Testauftrag. Mit seinen fortschrittlichen Eigenschaften und Zuverlässigkeit ist P-8 ein außergewöhnliches Werkzeug für überlegene Kontaktbildung und elektrische Messungen.
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