Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9238931 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist eine Prober-Ausrüstung, die in der Halbleiterindustrie weit verbreitet ist. Es wurde entwickelt, um genaue und zuverlässige Messungen von Halbleiterbauelementparametern wie elektrische Prüfung und Kontaktwiderstand bereitzustellen. Insbesondere kann TEL P8-Prober für Wafer-Pegel-Kontaktsondenmessungen zur Wafer-Pegel-Gerätekennzeichnung, einschließlich Hochfrequenz (HF) elektrischer Prüfung, verwendet werden. Darüber hinaus sind seine automatisierten Kontaktsondensysteme zur Messung des elektrischen und Kontaktwiderstandes von Halbleiterscheiben einschließlich Polier- und Metallisierungstests einsetzbar. TOKYO ELECTRON P 8 prober wurde entwickelt, um eine breite Palette von Gerätemessungen mit stabiler elektrischer Umgebung und fortschrittlicher Funktionalität bereitzustellen. Es verfügt über mehrere Prober-Stufen, um verschiedene Wafer-Typen unterzubringen, einschließlich Silizium und Verbundmaterialien. Seine Kontaktstufen sind optimiert, um eine zuverlässige Kontaktbildung und plasmainduzierte Abscheidung zu ermöglichen, während sein Sondenmechanismus eine wiederholbare Kontaktspitzenpositionierung gewährleistet. Darüber hinaus bietet die gut konzipierte Sondenhalterlösung eine breite Palette von Prüfstandskonfigurationen, um die einzigartigen Anforderungen spezifischer Halbleiterbauelemente zu erfüllen. Das Probersystem ist mit verschiedenen Werkzeuganalysen ausgestattet, wie dem automatisierten OCR-Scan- und Bilderfassungstool, mit dem Benutzer Geräte während des Tests schnell überprüfen können. Darüber hinaus bietet das Gerät eine interaktive grafische Benutzeroberfläche, mit der Benutzer ihre Testszenarien interaktiv visualisieren und ändern können. Darüber hinaus ermöglicht es dem automatisierten Waferaustausch den direkten Austausch von Wafern zwischen TEL-Host und Prober für schnelle Test-/Trimm-/Pack-Operationen. TEL/TOKYO ELECTRON P 8 Prober verfügt auch über fortschrittliche laserbasierte Messungen. Mehrere Kanalöfen können für gerätespezifische Testszenarien und Temperaturmanagement modifiziert werden, während seine erweiterte parametrische Testsuite es Benutzern ermöglicht, parametrische und funktionelle Einflüsse gleichzeitig zu erfassen. Darüber hinaus ist seine Sondenkartenmaschine zum Schutz vor elektromagnetischen Störungen ausgelegt und ermöglicht die parallele Herstellung mehrerer Kontakte für eine schnellere Prüfung und genaue Messung. TEL/TOKYO ELECTRON P8 ist ein zuverlässiges und funktionsreiches Proberwerkzeug, das für den Einsatz in einer Vielzahl von Halbleiterherstellungs- und Testoperationen geeignet ist. Seine fortschrittlichen Werkzeuge und Technologien ermöglichen es Benutzern, genaue und konsistente Ergebnisse zu erzielen, während seine fortschrittlichen Temperatur-, Sonden- und laserbasierten Tests es Anwendern ermöglichen, parametrische und funktionelle Einflüsse gleichzeitig zu erfassen.