Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9245565 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-8
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-8
ID: 9245565
Prober.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist eine Proberausrüstung von TEL (TOKYO ELECTRON), die zur Sondierung bestimmter elektrischer Kontakte und anderer winziger Teile auf einer Halbleiterscheibe oder Leiterplatte verwendet wird. Es verfügt über ein Atomkraftmikroskop (AFM) -Modul, das eine exakte und hochauflösende Analyse bietet. Darüber hinaus ist es mit einem hochgenauen elektrostatischen Spannsystem integriert, das durch eine gleichmäßige und stabile Kraft einen konstanten und sicheren Kontakt zwischen Sensor und Probe aufrechterhält. Die Autofokuseinheit von TEL P8 sorgt dafür, dass der einstellbare Fühlspalt bei minimalem Einfluss von Umgebungsstörungen exakt eingestellt wird. Die automatische Erkennung notwendiger Bedingungen bereitet zudem schnell die optimalen Parametereinstellungen vor, um genaue Messergebnisse zu gewährleisten. TOKYO ELECTRON P 8 verfügt über eine Hochgeschwindigkeits-Abtastfähigkeit, die es ermöglicht, eine größere Fläche der Probe in kürzeren Zeiten zu sondieren. Es ist auch für die Wiederholbarkeit optimiert und liefert konsistente und zuverlässige Ergebnisse für jede durchgeführte Messung, was es ideal für hochgenaue Messungen auf Halbleiter- und Leiterplatten macht. Ein Auto-Learning-Feature sorgt außerdem dafür, dass es sich schnell an verschiedene mechanische Eigenschaften der Probe anpassen kann, was eine hochgenaue Sondierung ermöglicht. Für die Effizienz implementiert TEL P-8 einen Ethernet-Port und eine Multi-Window GUI zur Steuerung und Überwachung der Maschine. Die Maschine bietet auch spezielle Funktionen und Messungen wie die Messung des dreidimensionalen Profils der belichteten Oberfläche. Darüber hinaus ist die breite Palette an optionalem Zubehör in der Lage, verschiedene Geräte mit Leichtigkeit zu handhaben. Insgesamt ist TOKYO ELECTRON P8 ein leistungsstarkes und präzises Proberwerkzeug, das auf Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit optimiert ist. Sein AFM-Modul bietet sehr detaillierte Messungen, während sein einstellbarer Fühlspalt hilft, den ständigen und sicheren Kontakt mit der Probe aufrechtzuerhalten. Seine hohe Geschwindigkeit Scan-Fähigkeit und Multi-Window GUI sorgen auch für Komfort und schnelle Datenanalyse. Es ist eine ideale Wahl für die Sondierung von Halbleiter- und Leiterplatten.
Es liegen noch keine Bewertungen vor