Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9361265 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein automatisierter Wafer-Prober zur präzisen Messung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen. Der Prober wurde entwickelt, um den Durchsatz zu maximieren, um genaue, wiederholbare und zuverlässige Ergebnisse zu liefern. Das Gerät besteht aus einem Tray-Loading-Mechanismus, einem Wafer-Transportmodul, einem Prober, einem Ausrichtwerkzeug in Form eines Lasers sowie einem optionalen Sonden-Card-Caddy. Der Tray-Lademechanismus ermöglicht es Benutzern, schnell und einfach mehrere Wafer auf den Prober zu laden. Das Wafertransportmodul ist für den Transport der Wafer vom Tray zum Prober und zurück zuständig. Dies geschieht mit einem vakuumgesteuerten Transportsystem und einem Roboterarm. Das Laserausrichtungswerkzeug ist speziell für die Ausrichtung von Wafern am Prober ausgelegt. Dadurch wird sichergestellt, dass die Sonden des Probers die zu testende Vorrichtung am optimalen Ort für zuverlässige Tests kontaktieren. Der Prober selbst ist die Kernkomponente der TEL P8 Einheit. Es hat einen modularen Aufbau, so dass es in andere Prozesse wie Back-End-Tests integriert werden. Es kann verwendet werden, um elektrische Eigenschaften von Halbleiterbauelementen wie Stromleckage, Durchbruchspannung und Gatekapazität zu messen. Der offene Plattformprober hat die Fähigkeit, verschiedene Plattengrößen unterzubringen, um die Prüfung von Spezialgeräten zu ermöglichen. Es hat auch eine Hochgeschwindigkeitssonde Positioniermaschine, die für die Prüfung in einer Vielzahl von Konfigurationen ermöglicht. Der optionale Prüfkarten-Caddy ermöglicht die Kompatibilität mit mehreren Prüfkartentypen. Dies ermöglicht es Benutzern, Tests mit verschiedenen Arten von Messwerkzeugen durchzuführen. TOKYO ELECTRON P 8 Tool kann auch mit einem Vision-Asset integriert werden, so dass Benutzer die Vorteile der visuellen Inspektion und Wafer-Mapping. P8 ist ein fortschrittlicher automatisierter Wafer-Prober, der zuverlässige, wiederholbare und genaue Testergebnisse liefert. Das Modell besteht aus einem Tray-Lademechanismus, einem Wafer-Transportmodul, einem Prober, einem Laserausrichtungswerkzeug und einem optionalen Probenkarten-Caddy. Der modulare Aufbau macht den Prober kompatibel mit anderen Prozessen und kann mehrere Plattengrößen aufnehmen. Die Hochleistungsuntersuchungspositionierungsausrüstung macht das System passend für eine Vielfalt, Konfigurationen und Schauzwecke zu prüfen. Schließlich ist das Gerät benutzerfreundlich und einfach zu bedienen und bietet Benutzern die Möglichkeit, schnell und effizient zuverlässige Ergebnisse zu erzielen.