Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8i #293610617 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8i ist ein hochentwickelter, hochpräziser Prober, der von TEL, TOKYO ELECTRON Limited hergestellt wird. Dieser Prober ist eine vielseitige mechanische Ausrüstung, die Sondierungs- und Automatisierungsfunktionen kombiniert, um einen hohen Durchsatz und eine ultrafeine Gerätecharakterisierung zu ermöglichen. Mit dem neuesten vollautomatisierten Design ermöglicht es automatisiertes Richten von Wafern und eine geringe Kontaktkraft zur Durchführung von Wafer-Pegelmessungen an High-End-Chips. Ausgestattet mit einer innovativen Architektur und einem Pre-Alignment-System bietet es überlegene Genauigkeit, Hochgeschwindigkeits-Scannen sowie hohe Wiederholbarkeit, auch in einer stark überlasteten Umgebung. TEL P8I verfügt über eine hochauflösende computergesteuerte Stufe mit einer Fahrgenauigkeit von bis zu 5 Mikrometern und bietet automatisierte Wafer-Abtastfunktionen für eine breite Palette von Wafergrößen. Seine integrierte Einheit umfasst ein Wafer-Map-Tool, Standortfenster, PAT (Precision Automation Technology) Maschine, zusammen mit der Option der optionalen zeitaufgelösten Messung. Diese Funktion ermöglicht das gleichzeitige Abtasten mehrerer Positionen mit hoher Geschwindigkeit und Genauigkeit. Darüber hinaus trägt der Einsatz seiner patentierten Ausrichtungstechnologie dazu bei, eine schnelle Inbetriebnahme und zuverlässige Leistung auch unter komplexen Sondierungsbedingungen zu erreichen. Die Verwendung dieses Probers bietet einen umfassenden Funktionsumfang zur Durchführung von Charakterisierungen wie Impedanzmessungen, statische und dynamische Rauschmessungen sowie elektrische Parameter von Halbleitern. Die fortschrittliche Optik des Werkzeugs macht es auch für die Messung parametrischer und zerbrechlicher Nanoskala-Geräte geeignet. Darüber hinaus kann es für eine Vielzahl von Forschungs-, Entwicklungs-, Fertigungs- und Reparaturanwendungen eingesetzt werden. TOKYO ELECTRON P 8 I prober ist eine ideale Wahl für Labore und Unternehmen, die eine leistungsfähige und effiziente Wafer-Level-Sondierung benötigen. Dieser Prober kann die alltäglichen Herausforderungen der Gerätecharakterisierung und -analyse effektiv meistern, indem er die Notwendigkeit einer manuellen Wafer-Sondierung eliminiert und fordurable und zuverlässige Ergebnisse liefert.