Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8i #9145479 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8i ist ein Prober, der überlegene Genauigkeit und Wiederholbarkeit bietet, um die Leistungsanforderungen verschiedener Anwendungen zu erfüllen. Es ist speziell für hochpräzise Charakterisierungen von Halbleiterbauelementen konzipiert und mit einer hochpräzisen 3-Achs-Stufe und einem Hochgeschwindigkeits-XYZ-Scanner für schnelle und genaue Sondierung ausgestattet. Der Prober ist mit einem optischen Encoder ausgestattet, der in Verbindung mit einem PZT (piezoelektrischen) Aktuator verwendet wird, um eine hochgenaue und wiederholbare Positionierung zu ermöglichen. Durch die Kombination dieser beiden Technologien bietet TEL P8I optimale Ergebnisse in einem einzigen Setup mit einer Wiederholbarkeit von unter 0,5 µm unabhängig von der Position. TOKYO ELECTRON P 8 I prober ist in der Lage, kleine Änderungen in Spannungssignalen mit sehr niedrigen Frequenzen zu erfassen und ist für die Verarbeitung einer Vielzahl von Wafergrößen von kleinsten Mikrochips bis zu acht Zoll Wafern ausgelegt. Es ist auch mit fortschrittlichen Algorithmen ausgestattet, die extrem kleine Änderungen an Signaleigenschaften und Geräteeigenschaften erkennen und analysieren können. TEL P 8 I prober verfügt zudem über einen hochmodernen Workflow-Manager, mit dem Benutzer ihre Testvorgänge optimieren und die Produktivität steigern können. Sein Hochleistungs-Vision-System soll Teststellen auf dem Wafer auch in komplexen Strukturen präzise identifizieren. Der Prober ist ferner mit einer Reihe weiterer Merkmale ausgestattet, wie einem Temperaturmodul zur Temperaturregelung des Wafers während der Prüfung sowie einem Feuchtigkeitssensor zur Überwachung der atmosphärischen Umgebung innerhalb der Proberkammer. Für zusätzliche Sicherheit ist TEL/TOKYO ELECTRON P8I auch mit einem Verriegelungsmechanismus ausgestattet, der sicherstellt, dass nur autorisiertes Personal auf den Prober und seine Komponenten zugreifen kann. TEL/TOKYO ELECTRON P 8 I bietet Anwendern Vertrauen in ihre Testoperationen und optimierte Ergebnisse und ist damit ein ideales Werkzeug für die Gerätecharakterisierung.