Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8i #9356075 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8i ist ein Prober, der von TEL, einem japanischen Halbleiterausrüster, entwickelt wurde. Dieser Prober dient zur Prüfung und Charakterisierung von Halbleiterbauelementen auf Waferebene. Es eignet sich sowohl für den Einsatz in der Wissenschaft als auch in der Halbleiterindustrie. TEL P8I verfügt über einen bürstenlosen Antrieb, der hohe Geschwindigkeit und Genauigkeit bietet und gleichzeitig den Wartungsaufwand reduziert. Die Top-Load-Funktion macht es auch einfach, mehrere Geräte an und aus dem Prober gleichzeitig zu laden und zu entladen. Darüber hinaus sorgt die optoelektrische Trennschaltung für kein Übersprechen oder Lecken elektrischer Signale im Prüfprozess. TOKYO ELECTRON P 8 I ist ein sehr zuverlässiges und genaues Produkt, das zuverlässige Ergebnisse für Hersteller und Anwender von Halbleitertechnologien liefert. Der Prober verfügt über eine integrierte Ausrichtungskamera, die bei der Positionierung und Feinausrichtung von Wafern hilft. Dies ist ein wichtiger Bestandteil des Prüfprozesses, da Wafer genau positioniert werden müssen, um genaue Tests zu gewährleisten. Darüber hinaus hat P-8i eine geringe Vibrationsleistung, was zu geringen Geräuschen führt. Dies macht es für den Einsatz in einer Vielzahl von verschiedenen Umgebungen geeignet, einschließlich Labors und Produktionslinien. TOKYO ELECTRON P-8i hat auch eine Auflösung von 1,5 μ m in der Ebene, was bedeutet, dass auch kleine Strukturen auf dem Wafer genau identifiziert werden können. Dies ist ein wichtiges Merkmal für die Prüfung kleiner Geräte wie Speicherchips, da diese mit extremer Genauigkeit getestet werden müssen, um ihre Leistung und Haltbarkeit zu gewährleisten. Darüber hinaus ist P 8 I in der Lage, eine breite Palette verschiedener Materialien auszuwerten, darunter Silizium, Galliumarsenid und III-V-Verbindungen, wodurch es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. Insgesamt ist TEL/TOKYO ELECTRON P8I ein zuverlässiger und genauer Prober, der die Prüfung von Halbleiterbauelementen einfacher und genauer macht. Es eignet sich sowohl für den akademischen als auch für den industriellen Einsatz, da es zuverlässig ist und niedrige Vibrations- und Geräuschpegel aufweist. Darüber hinaus ist es aufgrund seiner hohen Auflösung in der Lage, auch kleine Strukturen auf dem Wafer zu identifizieren, was eine genaue Prüfung kleiner Komponenten wie Speicherchips ermöglicht. Schließlich ist es auch in der Lage, eine breite Palette von verschiedenen Materialien zu bewerten, so dass es für eine Reihe von Anwendungen geeignet.