Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8LC #9227226 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8LC ist ein vollständig konfigurierter Wafer-Prober, der für eine Vielzahl von Halbleiter-Wafer-Testanwendungen verwendet wird. Das PC-basierte Steuergerät und die hohe Genauigkeit der Probenplatzierung machen TEL P-8LC zu einer vielseitigen Lösung für eine Reihe von Sondierungsanforderungen. Das Gerät wird mit einer 8-Achsen-, hohen Geschwindigkeit ausgestattet, Singleachse hat Bewegungslaufwerksystem synchronisiert. Es unterstützt lineare Positionen sowie XYZ-Positionen mit Steigungs-, Gier- und Rollenkorrekturen. TOKYO ELECTRON P-8LC verfügt über eine vertikale Probenübertragungseinheit und einen Waferarm, der zur zusätzlichen Zuverlässigkeit in eine abgedichtete Struktur eingebaut ist. Der Prober hat einen X-Achsen-Verfahrbereich von 300 mm und den Y-Achsen-Verfahrbereich von 200 mm. P-8LC kann für eine Vielzahl von Halbleiter-Wafer-Testanwendungen verwendet werden, einschließlich Kontaktsondierung, Leckagetests, elektrische Leistungstests und berührungslose Tests. Es verfügt über eine Multi-Sonde-Maschine und ist in der Lage, Positionsgenauigkeit von bis zu 8 μ m auf einem Aktiv-Sonden-Pad. TEL/TOKYO ELECTRON P-8LC verfügt auch über eine integrierte Datenerfassungsplatine (DAC), um eine automatische Datenerfassung aus der internen Hardware des Probers zu ermöglichen. Alle Funktionen werden von einer intuitiven PC-basierten Schnittstelle aus bedient. TEL P-8LC Wafer-Prober wird mit einem integrierten 6-Achsen-Ausrichtwerkzeug gebaut. Es verfügt über ein Vakuum Electric Field (VEF) für automatisch sondierte Proben, um eine perfekt zentrierte Positionierung vorzunehmen. Zusätzlich verfügt es über einen eingebetteten Flowing Immersion Liquefier (FIL) zur Optimierung der Wärmedämmung. TOKYO ELECTRON P-8LC prober verfügt über verschiedene zusätzliche Funktionen für mehr Funktionalität und Leistung. Dazu gehören automatische Probenerkennungs- und Erkennungssysteme, ein Roboter-Handling-Asset, ein Load/Unload Control Program (L/UCP) für das automatisierte Bewegen von Sonden und Wafern und ein Probing Field Adjustment Model (PFAS) zur Anpassung der Probenbedingungen für einen verbesserten Tastspitzenkontakt. P-8LC ist mit mehreren Selbstschutzfunktionen aufgebaut. Es verfügt über einen Not-Aus-Betrieb, eine manuelle Sicherheitskontrolle und einen Sicherheitsverriegelungsmelder. Darüber hinaus ist TEL/TOKYO ELECTRON P-8LC mit einem Diagnosemonitor ausgestattet, um die Geräteleistung zu bestimmen und anormale Betriebsbedingungen zu erkennen. Insgesamt ist TEL P-8LC ein genauer und zuverlässiger Wafer-Prober für den Einsatz in einer Vielzahl von Halbleiter-Wafer-Testanwendungen. Die integrierten Funktionen ermöglichen eine einfache Bedienung und verbesserte Leistung bei maximaler Vielseitigkeit und Zuverlässigkeit.