Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #159131 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL prober ist ein fortschrittlicher, hochpräziser Prober, der für die Probenhandhabung in Halbleiter- und anderen verwandten Industrien entwickelt wurde. Es wurde entwickelt, um Genauigkeiten im Bereich von Sub-Mikron-Ebenen bereitzustellen, so dass es kleine, empfindliche und präzise Proben mit maximaler Effizienz handhaben kann. TEL P8XL verfügt über eine vollautomatische, lineare Bühnen- und Wafer-Handhabung, die einen hohen dynamischen Bewegungsbereich bietet und eine präzise Waferausrichtung und schonende Handhabung ermöglicht. Es ist mit einem automatischen Indexiersystem zur präzisen Registrierung mehrerer Proben für parallele Tests ausgestattet. Auch die Probenstufe ist mit einer Auflösung von bis zu 0,0005 mm feinpositionierbar. Der Prober ist auch mit einer In-Plane-Rotation-Fähigkeit und einem eingebauten motorisierten motorisierten Spitzenversteller ausgestattet, so dass er komplexe Probengeometrien handhaben kann und die Probenintegrität erhalten bleibt. TOKYO ELECTRON P8-XL ist auch in der Lage, die Prüfung von oberflächenmontierten Geräten zu ergänzen und die Datenerfassung über eine Speicherkarte und eine druckerfertige Schnittstelle bereitzustellen. In Bezug auf die Genauigkeit trägt TEL/TOKYO ELECTRON P-8 XL eine Z-Achsen-Auflösung von 5 nm und ermöglicht es, Fehler in Komponenten im Sub-Millimeter-Maßstab korrekt zu identifizieren. Dies ermöglicht die Identifizierung von Bögen, Ketten oder Mängeln jeglicher Art, was die Ausbeute und Qualitätskontrolle im Produktionsprozess erheblich verbessert. Der Prober ist auch mit einer Tintenstrahl-Wafer-Markierungseinheit ausgestattet, so dass Techniker Proben vor und nach dem Test leicht identifizieren und katalogisieren können. Darüber hinaus verfügt TEL/TOKYO ELECTRON P8-XL über eine Vision-Maschine, die es den Bedienern ermöglicht, das genaue Testprogramm für die Probe zu verfolgen. Zusammenfassend ist TEL P-8XL ein fortschrittlicher, automatisierter Prober mit Submikron-Genauigkeit auf einer Reihe von Probengeometrien und extremer Z-Achsen-Auflösung. Die hochautomatisierten und präzisen Steuerungen sowie die In-Plane-Rotation und die Wafer-Kennzeichnungsfähigkeit bieten ihm die Flexibilität und Genauigkeit, um immer komplexere Aufgaben bei der Bearbeitung von Proben zu bewältigen. Es ist ein zuverlässiges und effizientes Werkzeug, um die Genauigkeit in der Halbleiterindustrie deutlich zu verbessern.