Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293658748 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL prober ist ein Hochleistungsprober, der für eine Vielzahl von High-Tech-Halbleiter-Wafer-Prüf- und Sondierungsanwendungen verwendet wird. Seine schlanke Konstruktion und robuste Konstruktion machen es zu einer idealen Wahl für eine breite Palette von Wafer-Tests. Der Prober kann präzise die Muster von bis zu acht großen Düsenstellen gleichzeitig bewegen und scannen, wodurch eine gleichzeitige Sondierung jeder Düsenstelle während des Testvorgangs ermöglicht wird. TEL P8XL prober ist mit einem Großraumprobertisch ausgestattet. Dadurch kann das Mikroskop zur fokussierten Durchführung von Scanvorgängen an jeder Matrize über den Wafer gehoben werden. Der Probertisch kann auch verwendet werden, um Wafer über eine Entfernung von bis zu 7x genau zu bewegen, was die Geschwindigkeit und Produktivität des Testprozesses verbessert. Es hat auch die Fähigkeit, Halbleiter genau und präzise zu scannen. Dieser Prober ist auch mit einer präzisen Scanumgebung ausgestattet, die eine hohe Genauigkeit bei Prüfvorgängen gewährleistet. Dies wird erreicht durch eine parametrische Quelle, die auf genaue Auslese von Waferüberlagerungen optimiert ist, und einen zweistufigen Quarzkoppler, der die Z-Achse steuert. Darüber hinaus verfügt TOKYO ELECTRON P8-XL prober auch über eine hocheffiziente Kühleinrichtung, die die Überhitzung von Halbleitern aufgrund erhöhter Geschwindigkeit der Prüfvorgänge eliminiert. TEL P 8 XL prober läuft auch auf einem vernetzten System und markiert es in Bezug auf Kosten und Skalierbarkeit hocheffizient. Diese Einheit beseitigt die Notwendigkeit von Bedienern, manuelle Arbeit für den Aufbau des Probers bereitzustellen, da diese Funktionen auf effiziente Weise automatisiert werden können. Darüber hinaus kann die Maschine mit anderen Teilen der Umgebung verbunden werden, was den Betrieb schneller und effizienter macht. Insgesamt ist TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XL prober ein effektiver und effizienter Prober, der für eine Vielzahl von Halbleiter-Wafer-Tests und Sondierungsanwendungen verwendet wird. Seine große Kapazität prober Tabelle, Präzisions-Scan-Umgebung, hocheffiziente Kühlung Werkzeug, und seine Unterstützung für vernetzte Operationen machen es eine ideale Wahl für eine breite Palette von Wafer-Testoperationen.