Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293671046 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL prober ist ein integrierter Wafer-Prober, der entwickelt wurde, um zuverlässige und genaue Wafer-Sondierungsergebnisse für IC-Tests und Wafer-Level-Tests zu liefern. Der Prober ist für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, einschließlich IC-Tests, Prozessanalysen und Konstruktionsanalysen. TEL P8XL prober umfasst eine hochgenaue automatisierte 4-Achsen-XY- θ-Positionierstufe, mit der der Wafer präzise auf der Sondierstation platziert werden kann. Die Stufe ist in der Lage, die Positionierauflösung auf 0,1 µm mit einer Wiederholbarkeit von 0,01 µm zu steuern. Der Prober ist außerdem mit einem fortschrittlichen Bildgebungssystem ausgestattet, das eine Ausrichtung auf die Gerätemitte ermöglicht. Dies ermöglicht präzise Messungen von Gerätestrukturen und Geometrien. TOKYO ELECTRON P8-XL prober bietet auch Hochgeschwindigkeitssondierung mit minimalem Überschwingen. Seine Wafer-Sondierungsfunktionen umfassen Druckmessung, Niederspannungskontakt und aktive Ausrichtungstechnologien, die genaue und konsistente Sondierungsergebnisse liefern, selbst wenn eine hohe Gerätedichte ein Problem ist. Der Prober ist auch in der Lage, große Kontaktspitzen mit einer Kraft von 150 mN bis 1,5 N anzutreiben, was eine Vielzahl von Gerätekontaktarten ermöglicht. Der Prober verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche, die einfach zu bedienen ist und Setup und Parameterkonfiguration schnell und einfach macht. Der Prober ist auch mit einer Vielzahl von Programmiersprachen kompatibel und kann in bestehende Software integriert werden, so dass automatisierte Test- und Prozesssteuerungsanwendungen implementiert werden können. TOKYO ELECTRON P-8 XL prober ist ein zuverlässiger und präziser automatisierter Wafer-Prober, der eine breite Palette von Prozesssteuerungs- und Analyseanwendungen bereitstellen kann. Die erweiterten Wafer-Sondierungsfunktionen und die intuitive Benutzeroberfläche machen es zu einer idealen Lösung für eine Vielzahl von IC-Sondierungs- und Wafer-Testanwendungen.