Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293712728 zu verkaufen
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TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein Prober, der speziell für Wafertests und damit zusammenhängende Halbleitergerätetests entwickelt wurde. Dieser Prober ist sehr zuverlässig und kann in Produktionsanwendungen eingesetzt werden, die geringe Wartungskosten erfordern. Es ist mit einem 300mm Indexer und einer maximalen Sondierungskraft von 1000N ausgestattet. TEL P8XL verfügt über eine integrierte Wafer-Handhabung und automatische Sondenpositionierung mit einer Schreib-Linienorientierung von 0,1 mm oder besser und einer Positionsgenauigkeit von 0,02 mm oder besser. ELEKTRON VON TOKIO P8-XL bietet auch eine fakultative Schachtelstation, sowie Kassette zu Kassettenoblatenübertragungsfähigkeiten an. TEL/TOKYO ELECTRON P-8 XL ist ein High-End-Prober mit einer breiten Palette von Fähigkeiten. Es beinhaltet ein vollautomatisches Ein- oder Doppelelektroden-Ortungssystem mit einer X-Y-Auflösung von 0,005mm oder besser, mit bordeigener Autofokus-Kamera und Frame-Grabber. Der Prober wird mit einer Multimodus-Sondenstation zur manuellen Ausrichtung, programmierbaren Messmustern und sondierten Punktmessung geliefert. TEL P-8 XL verfügt über eine fortschrittliche parallel wirkende Aufhängungseinheit zur genauen und wiederholbaren Oberflächenebenheitsmessung. TEL P8-XL verfügt über eine 24-Bit-Farbgrafik-Benutzeroberfläche (GUI), wodurch es einfach zu bedienen und zu programmieren ist. Die Maschine verfügt außerdem über eine Reihe von Datenanalysetools für eine effektive Waferüberprüfung, einschließlich eines Protokollkoordinatentools, statistischer Analysen und Filterfunktionen. Darüber hinaus verfügt P-8XL über ein optionales automatisches Wafer-Handling-Asset mit parallelisierter Losverarbeitung und Datenbankspeicher. Das Modell bietet auch Wafer-Stoßen, Spannungsrampen, vollständige Fotoerfassung und eine Reihe von Gerätetests einschließlich IC-Sondierungsmessungen. P8-XL Prober ist für die Fertigungsmenge vollautomatisierte Prüfung von Halbleiterchips und Wafern konzipiert. Dieses System ist ein zuverlässiges Werkzeug, das für die Überwachung verschiedener Wafer- und Düsenpegel-Komponenten wie Stoßen, Spannungsrampen und elektrische Prüfung eingesetzt werden kann. Es hat sich als äußerst robust und zuverlässig unter strengen Umweltbedingungen erwiesen und ist somit eine ideale Wahl für anspruchsvolle Produktionsläufe. Darüber hinaus ist diese Einheit mit ihrer hohen Genauigkeit eine gute Wahl für die Herstellung und Prüfung von Halbleiterbauelementen.
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