Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293791496 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein fortschrittlicher Prober, der für eine Vielzahl von Halbleiterprozessmaterialien wie Würfeln und Sondieren entwickelt wurde. Dieser Prober dient zur Überwachung und Messung der Eigenschaften von Wafern, Düsen und anderen Geräten in kritischen Prozessen. Der Prober wurde entwickelt, um die höchsten Industriestandards in Bezug auf Leistung, Genauigkeit und Zuverlässigkeit zu erfüllen. TEL P8XL prober bietet schnelle, genaue und wiederholbare Messungen und Tests, um sicherzustellen, dass die durch kritische Prozesse hergestellten Geräte den Kundenspezifikationen entsprechen. Das Prüf- und Messsystem ist mit einem hochmodernen Prüfkopf, Präzisionsstufen und optischem System ausgestattet. Der Kopf des Probers ist mit einer Kombination aus einer hochauflösenden Bewegungsstufe, einem Laserverschiebungssensor und einem MEMS-basierten optischen Abfragesystem ausgestattet. Die Bewegungsstufe und der Laserverschiebungssensor ermöglichen eine schnelle und genaue Sondierung sowie die hochgenaue Messung von Einrückungen und Markierungen auf der Oberfläche des Geräts. TOKYO ELECTRON P8-XL verfügt zudem über eine APC-Funktion (Automated Process Correction), die eine schnelle Nachführung von Stempelpositionen und die Messung feiner Einbuchtungen auch bei großen Wafer-Werkzeugen ermöglicht. Durch die integrierte Bewegungsachse kann jede feine Detailbeschichtung oder Fallstempel schnell kompensiert werden. Der Prober ist mit mehreren Arten von Stufen ausgestattet, darunter eine polysherige Bühne, eine CMOS-Spaltscanstufe, eine CradleSet-Bühne, eine Laserschneidstufe und ein Sondenkartenhalter. Die polysherige Stufe sorgt dafür, dass die Oberfläche des Wafers/der Matrize gerade und eben ist. Die CMOS-Spaltscanstufe ermöglicht eine genaue Ausrichtung und Platzierung des Probers relativ zum Wafer. Die CradleSet-Bühne dient zum genauen Scannen und Testen von Werkzeugmustern auf einer Fotomaske. Die Laserschneidstufe ermöglicht das wiederholbare Schneiden und Positionieren eines Wafers. Der Tastkartenhalter unterstützt mehrere Datenstiftkonfigurationen für eine verbesserte Genauigkeit und Flexibilität bei der Prüfung. TOKYO ELECTRON P-8XL ist mit einem Säulenvideomikroskop und einer leistungsstarken Düseninspektion-Benutzeroberfläche konzipiert. Es ist mit fortschrittlicher Optik und hochauflösenden Kameras ausgestattet, um Funktionen des zu testenden Wafers zu erfassen und zu überprüfen. Das Mikroskop bietet auch detaillierte Bilder von Wafer- und Düsenoberflächen mit einer Vielzahl von Vergrößerungen, so dass der Bediener die Merkmale des zu testenden Wafers validieren kann. TOKYO ELECTRON P8XL ist ein äußerst zuverlässiger und vielseitiger Prober, der für die genaue Messung und Prüfung einer Vielzahl von Halbleiterprozessmaterialien entwickelt wurde. Mit seinem breiten Spektrum an Funktionen sorgt es dafür, dass die Kundengerätespezifikationen mit einer hohen Präzision, Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Zuverlässigkeit erfüllt werden.