Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293791511 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein hochpräziser, vollautomatischer Prober zur Prüfung und Charakterisierung von Halbleiterverarbeitungsanlagen. Es ist in der Lage, minutengenaue elektrische Signale, Niederspannungseigenschaften und Geräteeigenschaften mit hoher Genauigkeit genau zu messen. Der Prober verwendet interferometrische Längenmesssysteme mit hoher Genauigkeit und erweiterte Konstruktionsmerkmale, was zu überlegener Messgenauigkeit, Wiederholbarkeit und Zuverlässigkeit führt. TEL P8XL ist mit einer einzigartigen Höhenerfassung Pinzette Verlängerung & Piezo Betätigung Ausrüstung ausgestattet, die ultrapräzise Kontaktpunkt Standortkontrolle ermöglicht, um die höchste Treue der Messungen zu gewährleisten. Das fortschrittliche elektronenmikroskopische Bilderkennungssystem sorgt zudem für Genauigkeit mit eingebauter Bildregulierung und Verzerrungskorrektur. Der Prober ist ferner mit einem automatisierten Wafermagazin ausgestattet, das ein automatisches Entladen und Beladen von Wafern ohne Eingriff des Bedieners ermöglicht. Dadurch entfällt die manuelle Handhabung von Wafern, die Verbesserung des Durchsatzes und die Verringerung des Kontaminationsrisikos. Der Prober ist ferner in der Lage, Wafer verschiedener Größen und Dicken zu testen. Dieser Prober wurde entwickelt, um die anspruchsvollsten Anforderungen der Halbleiterhersteller zu erfüllen, mit fortschrittlicher Bewegungssteuerung und genauen Wärmeerfassungssystemen. Seine Bewegungssteuereinheit sorgt für reibungslose und wiederholbare Bewegungsprofile für Scan- und Sondierungsaktivitäten, und seine Wärmeerfassungsmaschine ermöglicht eine genaue Temperaturregelung für den Prüfprozess. Darüber hinaus sind auch automatische Vision-Alignment-Systeme und fortschrittliche Datenerfassungssysteme enthalten, die die Funktionalität des Probers weiter ergänzen. TOKYO ELECTRON P8-XL bietet nachweislich eine hervorragende Leistung in einer Reihe von Einstellungen, wie IC-Paketsondierung, Hochspannungssondierung und Scan-Kettentests. Es ist zuverlässig, langlebig und anpassbar und bietet eine ideale Lösung für die Prüfung und Charakterisierung von Halbleiterbauelementen. Mit seinen umfassenden Funktionen bietet der Prober eine effiziente und genaue Lösung für Produktionsumgebungen.