Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293809912 zu verkaufen

„TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL“ ist ein Prober von TEL Ltd. (TOKYO ELECTRON) verwendet wird, um verschiedene Arten von integrierten Schaltungen (ICs) auszuwerten. TEL P8XL ist ein automatisiertes optisches Inspektionswerkzeug zur Erkennung von Defekten auf der IC-Oberfläche wie Kratzern, nackten Stellen, Fingerabdrücken, Haarrissen und Hohlräumen. Es kann auch verwendet werden, um Dicken an Bump-Metallisierungen zu messen, Foliendicke zu messen und für Dickenänderungen zu messen. TOKYO ELECTRON P8-XL besteht aus einer Kugelabtastplattform, einer optischen Detektionseinrichtung und Automatisierungsfunktionen, die alle miteinander integriert sind. Die Kugelabtastplattform ist ein ultrapräzises Abtastsystem, das aus zwei Drehtischen, einer distalen Objektivlinse, einem Näherungsfokus-Mechanismus zur Steuerung des Oberflächenprofils und der Mittelposition und einer automatisierten Bühnensteuerung besteht. Die optische Detektionseinheit ist eine hochauflösende Vision-Maschine, um Fehler an verschiedenen ICs zu erkennen. Dieses Werkzeug ist in der Lage, den optischen Weg für verschiedene IC-Größen und Geometrien einzustellen, und unterstützt auch die Verwendung verschiedener Arten von Beleuchtungslichtquelle. Die Automatisierungsfunktionen von TEL/TOKYO ELECTRON P-8 XL ermöglichen eine automatische Ausrichtung auf die Substratoberfläche und eine automatische Fokuseinstellung für verschiedene Arten von Substratoberflächen. Die innovative Software kann den Fehler von den normalen Mustern auf dem IC unterscheiden und feine IC-Muster für verschiedene IC-Strukturtypen genau messen. Darüber hinaus kann das Tool verschiedene Prozesse analysieren und simulieren, die mit dem IC-Fertigungstrend Miniaturisierung, Integration und Präzision zusammenhängen. TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XL prober ist für verschiedene Substratgrößen und Testarten wie Fehlerüberprüfung und Messtechnik gebaut. Es wurde entwickelt, um ICs bei hohen Durchsatzgeschwindigkeiten genau und schnell zu analysieren. Dies trägt dazu bei, die Qualität und Zuverlässigkeit der hergestellten ICs sicherzustellen, indem Defekte effizient erkannt und die Leistung des ICs bewertet werden. Damit ist TEL P 8 XL ein Schlüsselwerkzeug im Halbleiterherstellungsprozess.