Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9103756 zu verkaufen
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TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein von TEL Corporation entwickelter Prober zur elektrischen Prüfung von integrierten Schaltungen (ICs). Der Prober wurde entwickelt, um genaue und zuverlässige Tests von ICs zu ermöglichen, was ihn zu einer idealen Wahl für kritische Anwendungen macht. Es ist auch mit einer Vielzahl von Sondierungssystemen und Gerätetypen kompatibel, was eine Vielseitigkeit beim Testen ermöglicht. TEL P8XL basiert auf einem automatisierten 8-Standorte-Wafer-Sondierungssystem und ist ideal für den Einsatz in platzsparenden Umgebungen. Mit einer Ausrichtungsgenauigkeit von mehr als ± 3 Mikrometern bietet TOKYO ELECTRON P8-XL präzise Messungen und Wiederholbarkeit. Der physikalische Aufbau besteht aus zwei parallelen Betten von je vier Standorten, die je nach Art der zu prüfenden Probe auf Kugellagerschlitten unterschiedlicher Größe montiert sind. Das System umfasst außerdem einen Einkammer-Ofen, eine Mini-Plattform, einen Monitor und einen automatisierten Wafer-Handler. Das Gerät mit niedriger Höhe kann bis zu einer Tiefe von 0,1 mm scannen. P-8XL kommt mit einer Vielzahl von Software-Optionen, so dass Benutzer ihre Testanforderungen anpassen. Es enthält auch eine Vielzahl von Zeitfenstern, so dass mehrere Tests automatisiert und gleichzeitig ausgeführt werden können. Die Software kann auch für komplexe Testprozesse wie den Einsatz mehrdimensionaler Tests und fortschrittliche Datenanalysen programmiert werden. Die Software eignet sich besonders für ICs mit mehreren elektrischen Eigenschaften, wie Eingangs-/Ausgangsimpedanz und Spannungs-/Strompegel. Das Prober TEL P8-XL eignet sich hervorragend für Produktionsprüfungen und großvolumige Montagelinien und entspricht den im IEC/EN/UL60065 dargestellten Sicherheitsstandards. Das System ist in der Lage, einen sehr hohen Durchsatz zu erzielen, der einen stetigen Datenfluss und Ergebnisse liefert und gleichzeitig die Kosten niedrig hält. Die Genauigkeit und Wiederholbarkeit von TEL/TOKYO ELECTRON P8-XL die Zuverlässigkeit der Ergebnisse garantieren und eine beispiellose Prüfung für integrierte Schaltungen ermöglichen.
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