Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9131758 zu verkaufen

Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-8XL
ID: 9131758
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2000
Prober, 8" Hot 200v Power Cable Head plate Gas-spring on headplate Standard monitor WAPP-10K with brush Card Holder Manipulator Wafer Table SACC: 200/300 Boards: 147-CON VIP3 GP-IB TVB9003-1316 QMC#0 QMC#1 DMC3#2 TESTER I/F M-1 M-2 LST-1 LST-2 PST-STD PST-OPT SIO 2000 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL Prober ist eine automatisierte Wafer-Sondierungsanlage, die zum Testen, Charakterisieren und Inspizieren von Halbleiterchips und Wafern entwickelt wurde. Es ist mit einem fortschrittlichen Werkzeughandhabungssystem, genauen Sondierungspositionierern und einer hochauflösenden optischen Diagnoseeinheit ausgestattet. Die Maschine bietet eine ideale Plattform zur Charakterisierung von integrierten Schaltungen (ICs) auf Waferebene. TEL P8XL ist ein vollautomatisches Prober-Tool, das verschiedene Wafergrößen und -typen verarbeiten kann. Es ist mit einem integrierten zweiachsigen Robotermaterial-Handler (X-Y „Xacta“ -Positionierer) für eine effiziente Waferübertragung integriert. Es bietet Platz für Wafergrößen von 4 „bis 8“ mit optionalen Adaptern. Der Dual-Achsen-Roboter-Handler kann den Wafer präzise von Lagerort zu Testbereich und schnell und präzise zurück zum Lagerort bewegen. TOKYO ELECTRON P8-XL Probe Asset ist mit einem hochauflösenden optischen Mikroskop zur Formcharakterisierung und Wafer-Kartierung ausgestattet. Dieses Mikroskop ermöglicht die Inspektion und Analyse von Waferoberflächen und -strukturen. Es verfügt über eine motorisierte Stufe, die über Software zur Panoramavisualisierung eines Wafers oder der Matrize während des Tests betrieben werden kann. Das Mikroskop verfügt außerdem über eine hochempfindliche Videokamera zur Aufnahme von Bildern zur Analyse. Die automatisierte Testfunktion von TEL P8-XL prober wird durch seine Probe Drive Unit (PDU) aktiviert. Diese mikroskopische, programmierbare Sonde passt die Sondenposition und Winkelorientierung während des gesamten Testprozesses an und gewährleistet die genaue und wiederholbare Prüfung jedes Chips im Wafer. Die PDU übernimmt auch das automatisierte Wafer-Handling-Modell zur Probenbeladung in den Prober. Darüber hinaus ist die PDU in verschiedene Chiptester und Prüfsonden integriert und bietet die Möglichkeit, genaue elektrische Parameter von jedem Chip zu erfassen. TOKYO ELECTRON P-8XL verfügt auch über fortschrittliche Bewegungssteuerungssysteme zur präzisen Positionierung von Waferplätzen. Sein programmierbarer Luftdruckregler sorgt für den optimalen Druck für den Kontakt zwischen der Sonde und der Oberfläche der Matrize. TOKYO ELECTRON P 8 XL prober ist in der Lage, wiederholbare, hochpräzise Messungen für die Prozessentwicklung, Wafersortierung und Produktionstests durchzuführen. Es wird in vielen verschiedenen Branchen wie Unterhaltungselektronik, Automobil, Biomedizin und Materialwissenschaften eingesetzt.
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