Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9131775 zu verkaufen
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ID: 9131775
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2000
Prober, 8"
Gold
Hot cold
200v
GP-IB Cable
Head plate
Gas-spring on headplate
Standard monitor
WAPP-10K with brush
Card holder
Manipulator
Wafer table
Printer
SACC: 200/300
Boards:
147-CON
VIP3
GP-IB
TVB9003-1316
QMC#0
QMC#1
DMC3#2
Tester
I/F
M-1
M-2
LST-1
LST-2
PST-STD
PST-OPT
SIO
2000 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein Prober zur Charakterisierung von Materialien, die bei der Herstellung von Halbleitern verwendet werden. Es ist einer der bekanntesten Prober auf dem Markt und hat sich zum Werkzeug für Ingenieure und Techniker in der Materialprüfung beteiligt. TEL P8XL ist für den Einsatz mit Halbleiterscheiben bis 300mm Durchmesser ausgelegt. Das Gerät ist mit einem hochpräzisen rechnergesteuerten Motor ausgestattet, der es dem Anwender ermöglicht, einen Prüfling mit einer Genauigkeit von bis zu 0,01 Mikrometern genau auf die X-Y-Präzisionsstufe zu legen. Sobald die Probe an der Bühne befestigt ist, kann die Mikrosonde auf kapazitiver Mikrometer-Basis Messungen vom Wafer mit einer Genauigkeit bis zu 0,0001 Mikrometer durchführen. Die Mikrosonde hat eine breite Palette von mechanischen und elektrischen Sonden, so dass es einfach ist, das Instrument auf bestimmte Prüfprotokolle anzupassen. Das Gerät ist mit verschiedenen automatisierten Funktionen ausgestattet, wie einem Autofokussystem, einer automatischen Kalibrierungsprüfung und einem automatisierten Waferreinigungssystem. Diese Funktionen Anzahl der erweiterten Funktionen machen es einfach für den Benutzer, Tests schnell und genau durchzuführen. Hinsichtlich der Funktionen ist TOKYO ELECTRON P8-XL auch mit einer Reihe spezialisierter Softwarepakete kompatibel, so dass der Benutzer problemlos mehrere Analysefunktionen auf den gesammelten Daten ausführen kann. Dazu gehören Funktionen wie elektrische Prüfung, thermische Abbildung und Leckageanalyse. TOKYO ELECTRON P 8 XL ist ein ausgezeichnetes Werkzeug für Ingenieure und Techniker, die die Eigenschaften von Halbleitermaterialien testen müssen. Die verschiedenen automatisierten Funktionen und die breite Palette kompatibler Messsonden machen den Einsatz in jeder Testumgebung extrem einfach und präzise.
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