Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9152955 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein von TEL (TOKYO ELECTRON) entwickelter Hybrid-Prober zur Halbleitertest- und Geräteauswertung. Dieser erweiterte Prober eignet sich zur Charakterisierung von hochdichten Halbleiterbauelementen wie DRAMs, SRAMs, Logikschaltungen, Speicherkarten und anderen Speicherbauelementen. Darüber hinaus ist TEL P8XL äußerst zuverlässig und in der Lage, eine Vielzahl von Gerätegrößen, Prüfanforderungen und Sondierungsanforderungen zu bearbeiten. TOKYO ELECTRON P8-XL verfügt über einen 8-stufigen symmetrischen Parallelmechanismus, der Chips mit einem Durchmesser von bis zu 300 mm bei einer maximalen Prober-Belastbarkeit von 5g halten und sondieren kann. Der Prober ist so konzipiert, dass er einen kleinen Platzbedarf, einen großen Sondenumschlag, eine maximale Geschwindigkeit und schnelle Reaktionszeitanforderungen erfüllt. Die Sondenstufe ist voll motorisiert mit variabler Geschwindigkeit und programmierbaren Sondenhöhen. Der Prober ist in der Lage, über einen weiten Geschwindigkeitsbereich mit einer Genauigkeit von 0,5 μ m zu arbeiten. TEL P 8 XL verfügt auch über eine Vielzahl von erweiterten Sondierungsprogrammen, von doppelseitigen Operationen bis hin zu Kontakt- und Stripptests. Es verfügt über ein vollautomatisches Kontaktsteuerungssystem und bietet eine Vielzahl von Sondierungsmodi, darunter Einzelpunkt, kontinuierliche Punkte, Scanpunkt, Servofehler und 2D-Scan. P-8 XL ist ein robuster Prober, der für den Einsatz in der Halbleiterprüfung und Geräteauswertung entwickelt wurde. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen wie einem mehrachsigen Parallelmechanismus, einer motorisierten Sondierungsstufe, fortschrittlichen Sondierungsprogrammen und einem automatisierten Kontaktsteuerungssystem bietet es zuverlässige und hochgenaue Leistung mit einer breiten Palette von Gerätegrößen und Testanforderungen. Es eignet sich sowohl für ein breites Anwendungsspektrum als auch für hohe Testvolumina.