Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9167955 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-8XL
ID: 9167955
Wafergröße: 8"
Probers, 8" VIP3A Single loader Inker: No.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein hochpräziser Prober, hergestellt von TEL (TOKYO ELECTRON), Aleading-Anbieter von Halbleiterherstellungsgeräten. TEL P8XL ist ein fortschrittlicher Kontaktprober, der speziell für Wafer-Bump-Inspektion und Burn-In-Tests entwickelt wurde. Es zeigt eine automatisierte kartografisch darstellende Ausrüstung, Volloblatenscanfähigkeit und ein Hochleistungsdatenerfassungssystem. TOKYO ELECTRON P8-XL verfügt über einen modularen Aufbau, der aus einer Hauptprozessoreinheit und Zubehör besteht, um eine Vielzahl von Testszenarien zu ermöglichen, einschließlich Cryo-Burn-In und Datenprotokollierung. Die Hauptprozessoreinheit ist mit einer offenen Rahmenstufenstruktur mit Direktantrieb-Linearmotor, einer 150mm x 150mm Probenstufe mit 25 Mikrometer XY Wiederholbarkeit und einer 300mm x 300mm automatischen Ausrichtfläche ausgestattet. Die Sonde ist in der Lage, Sonden mit Ausrichtungsgenauigkeit von bis zu 1,5 um zu testen und kann 200mm, 250mm und 300mm Wafer handhaben. Es enthält eine High-Speed-Vision-Einheit, um eine schnelle Wafer-Ausrichtung zu gewährleisten, und ist in der Lage, hochauflösende Wafer-Inspektion ohne optische Verzerrung unterzubringen. Die Sonde ist mit einem feldwechselbaren optischen Leistungssensor zur Messung der Lichtleistung des Lasers für jeden Punkt auf dem Wafer ausgebildet. Darüber hinaus ist P-8XL mit einer modernen intelligenten Detektionsmaschine ausgestattet, die zum gleichzeitigen Einbrennen und Testen von Wafern hoher Dichte bestimmt ist. Es enthält ein genaues Laserpositionierungswerkzeug und programmierbare optische Erkennungsfähigkeit, um eine breite Palette von Burn-in-Tests durchzuführen. TOKYO ELECTRON P 8 XL ist ein vielseitiger und zuverlässiger Prober, der hergestellt wird, um die hochpräzisen Anforderungen der Halbleiterindustrie zu erfüllen. Der modulare Aufbau ermöglicht eine einfache Integration in Testsysteme, und die fähigen optischen Sensor- und Hochgeschwindigkeits-Scanfunktionen machen es zu einem wertvollen Kapital für Forschung und Fertigung Labors.
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