Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9180573 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein Prober, der für die hochgenaue Sondierung und Prüfung von Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Es ist ein multifunktionaler Prober, der das Testen und Sondieren einer Vielzahl von Typen wie Wafer, Bond-Pads und Multi-Die-Wafer unterstützt. TEL P8XL enthält einen erweiterten Bildanalyse-Algorithmus zur effizienten Ausrichtung und Positionierung von Wafern, der eine hohe Genauigkeit der Wafer-Sondierung und -Tests ermöglicht. Der Prober unterstützt auch die gesamte Bandbreite der SEMI Standard-Wafergrößen, von 8 „bis 12“ (200 mm bis 300 mm). TOKYO ELECTRON P8-XL ist mit einem verbesserten und zuverlässigen 12-Achsen-Mechanismus für Waferbewegung und Sondierung ausgestattet. Die Positionskontrolle ist genau auf 0,001 mm mit einem Mikrometer Maßstab Ausrüstung, die hohe Genauigkeit Sondierung ermöglicht. Es verfügt auch über einen ultragenauen Ausrichtungsalgorithmus zur Gleichmäßigkeitskontrolle der Waferpositionen. Darüber hinaus ist der Prober mit einer intuitiven Benutzeroberfläche mit Grafikbearbeitungsfunktionen zur Auswahl von Test- und Sondierungsmustern konfiguriert. Mit seinem fortschrittlichen Bildanalyse-Algorithmus ist TEL/TOKYO ELECTRON P8XL in der Lage, mehrere Stempelscheiben in einem einzigen Testlauf zu sondieren. Diese zeitsparende Funktion verbessert den Durchsatz und die Produktivität des Wafer-Sondierungs- und Testprozesses. Darüber hinaus verfügt der Prober über ein Bewegungssteuerungssystem und eine Software zur effizienten Prüfung, Sondierung und Positionskontrolle. Dies hilft, mögliche Ausrichtungs- oder Positionierungsfehler zu beseitigen, die zu fehlerhaften Ergebnissen führen können. Zur Unterstützung der hochgenauen Sondierung und Prüfung ist P-8XL zudem mit einer präzisen und zuverlässigen Servoeinheit für die Waferbewegung und einer linearmotorischen Antriebsmaschine für effizientes Waferscannen ausgestattet. Der Prober verfügt außerdem über eine optional einstellbare Z-Achse, mit der die Kontaktkraft und der Spalt zwischen der Sonde und dem Wafer für eine optimale Kontaktleistung eingestellt werden können. Weiterhin ist eine Temperaturzyklusfunktion zur genaueren Temperaturregelung während des Sondierungsprozesses enthalten. Insgesamt ist TEL P8-XL ein zuverlässiger und präziser Prober, der eine breite Palette von Wafern testen und sondieren kann. Seine fortgeschrittenen Bildanalyse- und Bewegungssteuerungssysteme gewährleisten eine hohe Genauigkeit bei der Sondierung und Prüfung. Darüber hinaus ist es aufgrund seines multifunktionalen Designs und seiner flexiblen Optionen ideal für das Testen und Sondieren mehrerer Stempelscheiben in einem einzigen Lauf, wodurch der Durchsatz und die Produktivität der Sondierungs- und Testprozesse erhöht werden.