Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9193119 zu verkaufen
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ID: 9193119
Wafergröße: 5"-8"
Fully automatic wafer prober, 5"-8"
Voltage hot chuck: Ni Hi
WAPP
Probe card cleaning plate & brush
Semi automatic card changer
Indexer slide loader
Wafer prealigner
Wafer Table
Media handler: Wafer
Boards:
GPIB
VIP3A
CPU
Interface: Credence quartet tester
PTPA Accuracy: +/- 4.0µm
PTPA Z Accuracy: +/- 5.0µm
Inspections:
Ink dot
Probe mark
Power: 220 V
Frequency: 50/60 Hz
Current: 7.5 A.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL prober ist ein hochentwickelter laserbasierter Wafer-Kontaktprober, der in der Lage ist, strenge Kontaktanforderungen an fortschrittliche Wafer-Technologien zu untersuchen. Es ist auf Genauigkeit und Wiederholbarkeit ausgelegt und verwendet eine kompakte optische Ablenkausrüstung, die Präzisionsabtastung mit genauer Bewegungssteuerung für schnelle Wafertests ermöglicht. Mit seinem einzigartigen Ausrichtungssystem kann TEL P8XL prober alle Zielstandorte automatisch ausrichten und genaue und wiederholbare Tests fortschrittlicher Wafertechnologien durchführen. Es hat eine Wafer-Akzeptanzrate von über 98% und verwendet eine laserbasierte Positioniereinheit, um den Wafer genau auf die Sonden auszurichten, wodurch Messfehler minimiert werden. TOKYO ELECTRON P8-XL ist auch in der Lage, Wafer mit achteckigen Höckern zu sondieren und zu analysieren und bietet Anwendern sowohl hochgenaue Synchronisationsabtastung für wiederholbare Messungen als auch Retikelabtastung mit niedriger Latenz für Mehrkontakt-Sondierung. TEL/TOKYO ELECTRON P8-XL verfügt außerdem über ein hochauflösendes LCD-Farbdisplay mit zwei Nummern zur Anzeige von Beispielbildern, Statistiken und Messdaten im nativen oder Blocktestmodus. Seine Atomic Level Pre-Alignment Technology (A-L-PAT) verwendet mehrere Kameras, sowohl on-board als auch off-board, um eine präzise Ausrichtung und Kalibrierung des WAFER zu gewährleisten und die Genauigkeit zu maximieren. Die On-Board-Düsenposition kann dann für bis zu 6 Achsen einschließlich X, Y, Neigungswinkel, Laserleistung und TFR-Abweichungskorrektur überwacht und gesteuert werden. P8XL verwendet eine Dual-Strahl-Abtastmaschine mit einem Laser und einem Mikrometer-Positionierer. Der Laserpositionierer dient zur Sondierung und Abbildung des Wafers, während das Mikrometer zur Positionierung der Sonden und zum Laden des Wafers auf die Bühne dient. Darüber hinaus kann P-8XL mit einer speziellen Kontaktsonde ausgestattet werden, die dazu dient, Großdüsen-Halbleiterchips zu messen und die Waferoberfläche präzise abzubilden. TEL P-8XL Prober verfügt über eine breite Palette von Funktionen und bietet überlegene Leistung, Genauigkeit und Wiederholbarkeit für Wafer-Sondierung, Bildgebung und Messung. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und hochwertigen Komponenten ist TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XL in der Lage, die strengsten Prüfanforderungen zu erfüllen und bietet Anwendern die höchste Leistung und Genauigkeit, die heute in Wafer-Probern verfügbar ist.
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