Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9205865 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein Prober zur elektrischen Prüfung und Sondierung von Halbleiterscheiben und integrierten Komponenten. Es hat eine Abtastkraft, die sich schnell über die Probenoberfläche bewegt, zur genauen und präzisen Kontaktidentifikation. Zu den Hauptmerkmalen von TEL P8XL gehören eine verbesserte Lasermarkenerkennung, eine erweiterte Mustererkennung und ein ultra-niedriger Kontaktkraftinspektionsmodus (CLF). TOKYO ELECTRON P8-XL verfügt über ein einzigartiges optisches System, das eine Laser-Linienmarkenerkennung zur Lokalisierung von Wafer- oder IC-Musterpunkten auf der Probenoberfläche verwendet. Dies ermöglicht eine schnellere und präzisere Sondierung von Halbleiterscheiben und Bauelementen. Die verbesserte Mustererkennungseinheit von P 8 XL kann genauere Messungen von komplizierten Mustern erhalten, was eine höhere Qualitätskontrolle ermöglicht. Die Wafer-Sonde kommt als Präzisionsmechanikmaschine mit einem Vakuumfutter, einem geschlossenen Ladegerät und einem Sondennadelträger. Zur genauen Datenerfassung umfasst die Wafer-Sonde statische elektrische Gegenmaßnahmen, die statische Elektrizität von jeder Sonde und jedem Kontakt reduzieren sollen. Um genaue Messungen zu gewährleisten, verfügt der Prober auch über einen Schwingungsdämpfer und eine spezielle Abschirmung, um elektromagnetische Geräusche zu reduzieren. P8XL verfügt auch über einen fortgeschrittenen CLF-Prüfmodus, der für „Grobe Low-Force“ steht. Dadurch lassen sich Kontaktmessungen und Inspektionen mit sehr geringer Kontaktkraft schnell durchführen. Daten von Messungen, die mit CLF durchgeführt werden, sind zuverlässiger und halten aufgrund ihrer geringen Kontaktkraft einer höheren Temperatur besser stand. TEL P8-XL ist für hohe Präzision und hohe Genauigkeit Sondierung und Kontaktprüfung konzipiert. Es hat eine verbesserte Low-Contact-Force-Inspektionsmodus, erweiterte Mustererkennung und eine einzigartige Lasermarkenerkennungsmaschine für mehr Genauigkeit und Geschwindigkeit. Die Wafer-Sonde wurde entwickelt, um mit einer Vielzahl von Halbleiterscheiben und ICs zu arbeiten, was sie zu einem unschätzbaren Werkzeug im Produktionsprozess macht.